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單模光纖連接器損耗與影響因素的研究

發(fā)布時(shí)間:2017-06-26 22:07

  本文關(guān)鍵詞:單模光纖連接器損耗與影響因素的研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:目前,光纖通信正在迅猛發(fā)展,光纖的使用也越發(fā)廣泛。所以起到光纖之間互相連接作用的光纖連接器是光纖網(wǎng)絡(luò)中的重要組成部分。插入損耗和回波損耗作為光纖連接器的重要性能參數(shù)對(duì)整個(gè)系統(tǒng)都會(huì)產(chǎn)生較大的影響。分析不同因素對(duì)插入損耗和回波損耗的影響程度和規(guī)律,提出改進(jìn)方法和工藝是本文的主要研究方向。首先,本文建立光纖連接器的對(duì)接模型,利用模式耦合理論推導(dǎo)出端面間隙、橫向錯(cuò)位、端面傾角和變質(zhì)層共同作用下的插入損耗和回波損耗解析公式。針對(duì)光纖連接器的實(shí)際參數(shù)對(duì)比各因素對(duì)光纖連接器插入損耗和回波損耗的影響程度。分析發(fā)現(xiàn)在光纖連接器的實(shí)際使用中,端接力會(huì)保證兩根光纖實(shí)現(xiàn)物理接觸,橫向錯(cuò)位是影響插入損耗的主要因素,而影響回波損耗的因素為光纖端面的變質(zhì)層厚度和折射率。其次,提出改進(jìn)插入損耗和回波損耗的方法。針對(duì)目前的陶瓷插針制作精度,通過(guò)旋轉(zhuǎn)插針使偏心量與定位鍵之間夾角最小的方法,可以有效地減小光纖連接器的橫向錯(cuò)位,從而降低插入損耗。利用適宜濃度(5%)的氫氟酸腐蝕光纖連接器的方法可以有效地減小光纖端面變質(zhì)層的厚度,從而提高光纖連接器的回波損耗,使得UPC型光纖連接器的回波損耗可達(dá)60dB以上。氫氟酸濃度較小時(shí),腐蝕速度較慢,濃度較大則會(huì)對(duì)光纖表面形貌和插入損耗產(chǎn)生一定影響。最后,為了滿足光纖在腐蝕后的物理接觸,研究了研磨拋光工藝對(duì)光纖凹陷的影響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)拋光開(kāi)始時(shí)光纖凹陷迅速減小,此時(shí)變質(zhì)層發(fā)生塑性流動(dòng),厚度和折射率明顯下降。但是隨著拋光時(shí)間的逐漸增加,變質(zhì)層趨于平衡,光纖凹陷趨于穩(wěn)定。拋光壓力起到穩(wěn)定光纖凹陷在一定范圍內(nèi)的作用。研磨時(shí)間對(duì)光纖凹陷沒(méi)有影響。拋光后的高溫實(shí)驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn),高溫下的環(huán)氧樹(shù)脂膠會(huì)發(fā)生滑動(dòng),使得光纖凹陷有略微的減小。
【關(guān)鍵詞】:光纖連接器 插入損耗 回波損耗 變質(zhì)層
【學(xué)位授予單位】:大連理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TN253
【目錄】:
  • 摘要4-5
  • Abstract5-8
  • 1 緒論8-13
  • 1.1 課題的來(lái)源與意義8
  • 1.1.1 課題的來(lái)源8
  • 1.1.2 課題的意義8
  • 1.2 光纖連接器的發(fā)展及國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀8-10
  • 1.3 光纖連接器性能參數(shù)10-11
  • 1.3.1 插入損耗10-11
  • 1.3.2 回波損耗11
  • 1.4 光纖連接器的分類11-12
  • 1.5 論文的研究目的與主要內(nèi)容12-13
  • 2 光纖連接器損耗的解析理論13-39
  • 2.1 單模階躍光纖中電磁場(chǎng)的高斯近似13-19
  • 2.2 光纖連接器插入損耗和回波損耗的理論計(jì)算19-25
  • 2.2.1 插入損耗的理論計(jì)算19-25
  • 2.2.2 回波損耗的理論計(jì)算25
  • 2.3 不同因素對(duì)光纖連接器插入損耗和回波損耗的影響分析25-38
  • 2.3.1 端面間隙對(duì)插入損耗和回波損耗的影響分析25-31
  • 2.3.2 橫向錯(cuò)位對(duì)插入損耗和回波損耗的影響分析31-32
  • 2.3.3 端面傾角對(duì)插入損耗和回波損耗的影響分析32-33
  • 2.3.4 變質(zhì)層對(duì)插入損耗和回波損耗的影響分析33-34
  • 2.3.5 端接力對(duì)插入損耗和回波損耗的影響分析34-38
  • 2.4 小結(jié)38-39
  • 3 光纖連接器插入損耗和回波損耗改進(jìn)方法39-55
  • 3.1 光纖連接器插入損耗改進(jìn)方法39-41
  • 3.1.1 陶瓷插針制作工藝39-40
  • 3.1.2 旋轉(zhuǎn)偏心量至定位鍵方法40-41
  • 3.2 光纖連接器回波損耗改進(jìn)方法41-48
  • 3.2.1 變質(zhì)層41-43
  • 3.2.2 變質(zhì)層產(chǎn)生機(jī)理43-45
  • 3.2.3 變質(zhì)層去除實(shí)驗(yàn)45-48
  • 3.3 光纖連接器光纖凹陷影響因素的研究48-53
  • 3.3.1 光纖凹陷產(chǎn)生原因49
  • 3.3.2 光纖凹陷影響因素研究49-53
  • 3.4 小結(jié)53-55
  • 結(jié)論55-58
  • 參考文獻(xiàn)58-61
  • 致謝61-62

【相似文獻(xiàn)】

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中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條

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6 蔡玉麗;MEMS集成光纖連接器關(guān)鍵技術(shù)研究[D];上海交通大學(xué);2007年

7 翁良;LC/PC型光纖連接器制造工藝的優(yōu)化[D];大連理工大學(xué);2013年

8 范美林;光纖連接器損耗與面型及端接力關(guān)系研究[D];大連理工大學(xué);2015年


  本文關(guān)鍵詞:單模光纖連接器損耗與影響因素的研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。



本文編號(hào):487724

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