本文關(guān)鍵詞：應(yīng)用設(shè)計(jì)過程的胚胎硬件細(xì)胞單元粒度優(yōu)化方法，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：胚胎硬件的高可靠性主要由新穎的硬件體系和細(xì)胞電路結(jié)構(gòu)來保障,缺乏應(yīng)用設(shè)計(jì)過程的可靠性提高方法研究。分析了在應(yīng)用設(shè)計(jì)過程中可調(diào)的胚胎硬件可靠性影響因素,針對細(xì)胞單元粒度不同會導(dǎo)致細(xì)胞面積變化從而影響細(xì)胞陣列可靠性的實(shí)際情況,對傳統(tǒng)可靠性模型無法體現(xiàn)細(xì)胞面積變化的不足進(jìn)行了改進(jìn),建立了新的可靠性模型。通過實(shí)例分析,總結(jié)出不同細(xì)胞單元粒度情況下的細(xì)胞陣列可靠性變化規(guī)律,進(jìn)而給出細(xì)胞單元粒度優(yōu)化選擇方法,設(shè)計(jì)者基于該方法不需設(shè)計(jì)完整電路就能確定自身設(shè)計(jì)能力范圍內(nèi)獲得最大可靠性的細(xì)胞單元粒度。
【作者單位】： 南京航空航天大學(xué)自動化學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 胚胎硬件 可靠性分析 電路優(yōu)化 細(xì)胞單元粒度 可重構(gòu)
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61202001,61402226)~~
【分類號】：TN02
【正文快照】： 網(wǎng)絡(luò)出版地址:www.cnki.net/kcms/detail/11.1929.V.20160224.1643.008.html引用格式:張砦,王友仁.應(yīng)用設(shè)計(jì)過程的胚胎硬件細(xì)胞單元粒度優(yōu)化方法[J].航空學(xué)報,2016,37(11):3502-3511.ZHANG Z,WANG Y R.Cell granularity optimization method of embryonics hardware in applic

  本文關(guān)鍵詞：應(yīng)用設(shè)計(jì)過程的胚胎硬件細(xì)胞單元粒度優(yōu)化方法，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：438334