本文關(guān)鍵詞：FPGA準(zhǔn)實(shí)時(shí)壽命損耗評(píng)價(jià)系統(tǒng)的驗(yàn)證試驗(yàn)設(shè)計(jì)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：為驗(yàn)證已建立的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)器件準(zhǔn)實(shí)時(shí)壽命評(píng)價(jià)系統(tǒng)的工程合理性,進(jìn)行了加速壽命試驗(yàn)的設(shè)計(jì)。驗(yàn)證試驗(yàn)的設(shè)計(jì),考慮不同型號(hào)之間的可靠性差異,針對(duì)特定型號(hào)的Xilinx XCV600 FPGA樣本,能夠定位樣本內(nèi)部具體失效部位。針對(duì)FPGA高可靠性的特點(diǎn),施加溫度、電壓和頻率3種加速應(yīng)力;針對(duì)FPGA使用環(huán)境多變的特點(diǎn),構(gòu)建了整套載荷數(shù)據(jù)跟蹤與處理流程。試驗(yàn)方案通過硬件和軟件系統(tǒng)實(shí)現(xiàn),硬件系統(tǒng)進(jìn)行FPGA工作環(huán)境的加載及準(zhǔn)實(shí)時(shí)工作情況數(shù)據(jù)的采集,軟件系統(tǒng)基于電遷移失效機(jī)理對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理得到壽命信息,將試驗(yàn)與預(yù)測(cè)結(jié)果進(jìn)行比對(duì)完成驗(yàn)證。實(shí)踐表明了該試驗(yàn)設(shè)計(jì)的可實(shí)施性,確認(rèn)了部分系統(tǒng)預(yù)測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
【作者單位】： 北京航空航天大學(xué)可靠性與系統(tǒng)工程學(xué)院;中航工業(yè)西安航空計(jì)算技術(shù)研究所;
【關(guān)鍵詞】： 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA) 特定型號(hào) 準(zhǔn)實(shí)時(shí)壽命評(píng)價(jià) 加速壽命試驗(yàn) 驗(yàn)證試驗(yàn)
【分類號(hào)】：TN791
【正文快照】： 速試驗(yàn)來實(shí)現(xiàn),而加速因子等基本加速情況的量化0引言估計(jì)則需要用到同樣的失效物理模型,該失效物理現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(field programmable gate ar-模型需要滿足同樣的工程合理性與準(zhǔn)確性要求。此ray,FPGA)集成電路器件,常常在電路設(shè)計(jì)中替外,驗(yàn)證試驗(yàn)還涉及實(shí)際載荷的實(shí)現(xiàn)與施

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