印刷電路板(printed circuit board,PCB)易受到靜電放電的危害,繼而影響電子產(chǎn)品的正常使用。為了獲得PCB的靜電放電能量耦合規(guī)律,對簡化的PCB進行靜電放電測試。通過對PCB軌線上的耦合電壓的測量,研究了放電位置、軌線特性及放電電壓對靜電放電電磁場耦合的影響。測試結(jié)果表明,放電位置、軌線寬度、長度和端接電阻會影響耦合電壓的大小和變化趨勢,放電電壓和耦合電壓呈現(xiàn)良好的線性關(guān)系。同時,根據(jù)在電磁仿真軟件(compilation simulation technology microwave studio,CST-MWS)中建立的全波模型,從仿真的角度進一步論證了測試結(jié)果。研究結(jié)果對PCB電磁兼容設(shè)計具有一定指導意義。

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【文章目錄】：
0 引 言
1 實驗方法
    1.1 待測PCB
    1.2 測試方法
2 測試結(jié)果及分析
    2.1 放電位置及軌線特性對耦合電壓的影響
        1)末端放電點
        2)側(cè)端放電點
        3)耦合電壓波形比較
    2.2 放電電壓對耦合電壓的影響
    2.3 對耦合電壓的分析
3 ESD模擬器仿真及結(jié)果比較
    3.1 ESD模擬器全波模型的建立
    3.2 仿真結(jié)果及比較
4 結(jié) 論



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