一種用于電源組件的保護電路的優(yōu)化設(shè)計
發(fā)布時間:2024-04-21 21:28
對應(yīng)用于電源組件中的過流/短路保護電路在高溫環(huán)境下誤啟動的原因進行了分析,確定導(dǎo)致電路失效的原因為電路參數(shù)設(shè)計不合理。在上電過程中,誤觸發(fā)保護電路的狀態(tài)鎖存電路會使電路誤入保護狀態(tài),導(dǎo)致電源組件無法正常上電啟動;贓DA仿真分析工具,得到設(shè)計優(yōu)化方案。R1由原來的10 kΩ降低至5.1 kΩ,R4由原來的6.8 kΩ增大至10 kΩ,C1由510 pF增大至0.1μF,有效解決了保護電路的誤啟動問題。分析并總結(jié)了高可靠保護電路的一般設(shè)計流程和關(guān)注重點。
【文章頁數(shù)】:4 頁
【文章目錄】:
0 引 言
1 失效現(xiàn)象及原因分析
1.1 電路結(jié)構(gòu)及工作原理
1.2 失效現(xiàn)象
1.3 原因分析
1.3.1 初步定位分析
(1) 驗證一。
(2) 驗證二。
1.3.2 鎖存電路異常啟動分析
2 失效機理及設(shè)計改進
2.1 失效機理
2.2 設(shè)計改進
2.3 推薦設(shè)計流程
3 結(jié) 論
本文編號:3961473
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0 引 言
1 失效現(xiàn)象及原因分析
1.1 電路結(jié)構(gòu)及工作原理
1.2 失效現(xiàn)象
1.3 原因分析
1.3.1 初步定位分析
(1) 驗證一。
(2) 驗證二。
1.3.2 鎖存電路異常啟動分析
2 失效機理及設(shè)計改進
2.1 失效機理
2.2 設(shè)計改進
2.3 推薦設(shè)計流程
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