利用三路脈沖MOCVD技術(shù)抑制非極性a面AlGaN外延層缺陷
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【部分圖文】:
圖1常規(guī)三路脈沖MOCVD技術(shù)和新型三路脈沖
本文利用脈沖MOCVD技術(shù)和低壓(40Torr,1Torr=133.3Pa)MOCVD系統(tǒng),在半極性(11ˉ02)r面藍(lán)寶石襯底上生長了非極性(112ˉ0)a面AlGaN外延層。實(shí)驗(yàn)中所使用的N源、Ga源和Al源分別為氨氣(NH3)、三甲基鎵(TMGa....
圖2樣品A和B的HR-XRDω-2θ掃描曲線
圖2為樣品A和B的HR-XRDω-2θ掃描曲線,圖中θ為衍射角,I為衍射強(qiáng)度。由圖2可知,2θ=52.56°的衍射峰來源于半極性r面藍(lán)寶石襯底(2204)晶面的X射線衍射,而2θ=59.30°的衍射峰則來源于非極性(112ˉ0)a面AlN緩沖層的X射線衍射。另外,2θ....
圖3樣品A和B的SEM表面形貌圖
圖3為樣品A和B的SEM表面形貌圖。樣品A和B呈現(xiàn)了非極性(112ˉ0)a面AlGaN外延層表面形貌的典型特征,即樣品表面比較粗糙,且沿[0001]c方向存在較多的倒金字塔深坑缺陷。由圖3(a)可以看出,樣品A表面存在較多的不規(guī)則起伏,這主要是由于非極性a面AlGaN材....
圖4樣品A和B的3D-AFM形貌圖
圖4為樣品A和B的三維AFM(3D-AFM)形貌圖。樣品A和B在5.0μm×5.0μm的測量區(qū)域的表面均方根粗糙度分別為13.0nm和3.0nm,即與常規(guī)三路脈沖MOCVD技術(shù)相比,利用新型三路脈沖MOCVD技術(shù)生長的非極性(112ˉ0)a面AlGaN樣品表面的....
本文編號(hào):3936203
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