基于統(tǒng)計(jì)學(xué)思想,提出了壽命預(yù)測過程的逆向檢驗(yàn)方法,通過Shapiro-Wilk檢驗(yàn)驗(yàn)證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的分布特性,通過方差齊性分析檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)過程老化機(jī)理一致性,通過顯著性檢驗(yàn)對回歸方程的顯著性進(jìn)行檢驗(yàn)。文章將該方法應(yīng)用于光電耦合器的壽命預(yù)測過程,通過提出的逆向檢驗(yàn)方法驗(yàn)證后,所得預(yù)測結(jié)果與生產(chǎn)廠家提供的參考壽命接近。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法能夠有效地檢驗(yàn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)和評估模型的適用性,進(jìn)一步提高光耦壽命預(yù)測的準(zhǔn)確性,同時(shí)該方法對其他器件的壽命預(yù)測也具有一定的借鑒價(jià)值。

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【部分圖文】：

圖1單個(gè)光耦測試電路

每種產(chǎn)品一般都會存在多種失效過程,而且每種失效過程是由特定的失效機(jī)理所決定的,其失效過程會隨著失效機(jī)理的變化而變化[24],經(jīng)過大量學(xué)者的研究表明,電流傳輸比(CTR)作為評價(jià)光耦老化最重要的參數(shù),是受光部件的集電極電流與LED驅(qū)動電流之比,其單個(gè)光電耦合器的測試原理圖如圖1所示....

圖2光電耦合器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)組成

壽命試驗(yàn)系統(tǒng)如圖2所示,電路圖如圖3所示。4.2加速老化試驗(yàn)數(shù)據(jù)采集

圖3光電耦合器壽命試驗(yàn)電路圖

在對上述試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析之前,需對其分布類型進(jìn)行驗(yàn)證,看其是否滿足對數(shù)正態(tài)分布。根據(jù)4.1節(jié)的介紹,考慮到樣本數(shù)量較少,選取Shapiro-Wilk檢驗(yàn)對表2的時(shí)間對數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行正態(tài)性檢驗(yàn),根據(jù)3.1節(jié)的驗(yàn)證步驟得到檢驗(yàn)結(jié)果見表4�？梢娫囼�(yàn)數(shù)據(jù)正態(tài)性檢驗(yàn)的顯著性水平均遠(yuǎn)大于給定的顯....

本文編號：3924850