為了分析機器視覺測量系統(tǒng)中LED陣列對柱面底板照度的影響因子,采用Taguchi實驗方法設計實驗,對環(huán)形、方形、菱形LED陣列不同接收面半徑、發(fā)光半角、發(fā)光面與接收面的距離因素進行分析。結果表明:利用Taguchi方法可以很快地找出輻照均勻度較大和最大的照度值,單顆LED的發(fā)光半角對輻照均勻度及最大照度的影響最大,分別占有66. 18%和63. 10%的影響地位。單顆LED的發(fā)光半角越大,其陣列的輻照均勻度越高,單顆LED的發(fā)光半角越小,其陣列光線比較匯聚,陣列最大照度值更大。

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圖1(a)環(huán)形LED陣列(b)方形LED陣列(c)菱形LED陣列(d)圓柱形目標面的投影圖

常見的LED陣列有方形、圓形和菱形LED陣列，接收面為柱面如圖1(a)(b)和(c)所示:圖1(d)為柱面在XOZ方向的投影圖，投影曲線為一段圓弧，其半徑為R，圓弧對應的中心角為2α，將其等分成M個采樣角，每個采樣角的大小為，其中Z1為柱面中心到LED陣列面的距離。假設在柱面上任....

圖2各水準對應的照度均勻度(a)和最大照度(b)的信噪比

其中其中yi表示第i次實驗的品質特性，n為實驗次數(shù)。下圖2為各水準對應的信噪比:4.2增補實驗數(shù)據(jù)分析

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