在當(dāng)今物聯(lián)網(wǎng)和大數(shù)據(jù)飛速發(fā)展的時(shí)代,圖像是人們獲得信息的主要途徑之一。圖像傳感器模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Image Sensor ADC)作為將圖像信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的主要工具,其廣泛的應(yīng)用在安防、醫(yī)療、攝影等領(lǐng)域,如何能夠準(zhǔn)確地采集到圖像信息是一件充滿挑戰(zhàn)的工作。按傳感器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行劃分,圖像傳感器主要包括電荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)圖像傳感器圖像傳感器和CMOS圖像傳感器(CMOS Image Sensor,CIS)兩大類。由于CMOS工藝的逐漸提高,使得CIS制造成本降低,性能提高,進(jìn)而成為圖像傳感器的主流產(chǎn)品。由于CIS讀出電路的引入,大大降低了CIS的噪聲。兩步單斜式ADC(Two-Step Singal-Slope ADC,Two-Step SS ADC)作為讀出電路的重要模塊,可以在低速成像中同時(shí)實(shí)現(xiàn)較高分辨率、較小面積和低功耗,從而在CMOS圖像傳感器中得到了廣泛的應(yīng)用。本文設(shè)計(jì)了一款用于Two-Step SS ADC的斜坡發(fā)生器(Ramp Generator),基于180nm CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一款工作在3.3V電源電壓下,轉(zhuǎn)換速率大于50K...

【文章頁數(shù)】：85 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1-1SSADC的基本拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文2了避免芯片嚴(yán)重自發(fā)熱對(duì)探測(cè)器精度產(chǎn)生影響，需要延長單次充電的使用時(shí)間，降低傳感器的面積。因此，低功耗、高集成度成為了圖像傳感器讀出電路的主要優(yōu)化方向[6]。圖1-1SSADC的基本拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)單斜式ADCs(Single-SlopeADC，SSADCs)在C....

圖1-2兩步式SSADC的量化過程

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文2了避免芯片嚴(yán)重自發(fā)熱對(duì)探測(cè)器精度產(chǎn)生影響，需要延長單次充電的使用時(shí)間，降低傳感器的面積。因此，低功耗、高集成度成為了圖像傳感器讀出電路的主要優(yōu)化方向[6]。圖1-1SSADC的基本拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)單斜式ADCs(Single-SlopeADC，SSADCs)在C....

圖2-3斜坡發(fā)生器中DNL和INL示意圖

第二章斜坡發(fā)生器概述92.2.1.2微分非線性和積分非線性微分非線性（DifferentialNonlinearity，DNL）時(shí)理想和實(shí)際曲線之間，相鄰的的臺(tái)階高度差的最大值，可以反映出模擬信號(hào)變化的線性化程度[26]，如圖2-3所示。圖2-3斜坡發(fā)生器中DNL和INL示意圖如....

圖2-43bit的斜坡發(fā)生器中失調(diào)誤差示意圖

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文10失調(diào)誤差（OffsetError）表征實(shí)際情況下與理想情況下所有垂直方向上的精度特性的差值，斜坡發(fā)生器失調(diào)誤差由該差值衡量，圖2-4表征了一個(gè)3位斜坡發(fā)生器的失調(diào)誤差：圖2-43bit的斜坡發(fā)生器中失調(diào)誤差示意圖由于分辨率的局限性，導(dǎo)致實(shí)際輸出信號(hào)的斜....

本文編號(hào)：3899507