針對集成電路測試過程中測試時間長,影響測試效率的問題,提出了一種集成電路測試流程分級動態(tài)調(diào)整方法.通過統(tǒng)計樣本集成電路中每種測試類型和每條測試向量的測試故障率來建立貝葉斯概率模型,根據(jù)其命中故障點的概率高低分級調(diào)整它們的加載順序.隨著測試的進行,不斷收集測試數(shù)據(jù),動態(tài)更新測試類型和測試向量的測試故障率,同步調(diào)整測試類型以及測試向量的加載順序.實驗表明,使用動態(tài)調(diào)整后的測試流程可以更早的發(fā)現(xiàn)故障電路,顯著減少故障電路的測試時間,提高測試效率.本算法是完全基于軟件的,不需要增加硬件開銷,可以相容于傳統(tǒng)的集成電路測試流程.

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 電路測試流程分級動態(tài)調(diào)整方法描述
    2.1 主要思想
    2.2 算法描述
        2.2.1 初始化
        2.2.2 初步排序
            (1)測試類型排序
            (2)測試向量排序
        2.2.3 動態(tài)調(diào)整
3 實驗結(jié)果
    3.1 仿真實驗
    3.2 集成電路實驗
4 結(jié)論



本文編號：3780719