基干氧化鋅的p-n結(jié)紫外探測器
發(fā)布時間:2023-03-05 15:55
紫外探測器具有體積小、響應(yīng)快、靈敏度高、成本低等特點,故此,紫外探測器在民用和軍用等方面都有非常重要的應(yīng)用價值,越來越受到人們的普遍重視。由于ZnO半導(dǎo)體具有生長溫度低、電子誘生缺陷低、閾值電壓低、高光電導(dǎo)特性、化學(xué)穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性高等特性,所以ZnO紫外探測器的研究也隨之得到了迅速發(fā)展。為了獲得高性能的ZnO紫外探測器,研究者們從材料成分、材料尺度、器件結(jié)構(gòu)等不同角度設(shè)計器件。本論文從器件結(jié)構(gòu)方面構(gòu)思,分別設(shè)計并研究了垂直p-n結(jié)紫外探測器和徑向p-n結(jié)紫外探測器。具體研究內(nèi)容包括:第一部分包括采用磁控濺射法制備NiO薄膜和溶膠-凝膠技術(shù)制備ZnO薄膜,將兩種半導(dǎo)體材料結(jié)合在一起,構(gòu)制出新型NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器。探究垂直p-n結(jié)紫外探測器的工作原理,對器件電學(xué)性能進(jìn)行測試得知,相比ZnO薄膜器件,該器件暗電流降低了一個量級,開關(guān)電流比隨之增大了一個量級,且響應(yīng)速度也有所提高。第二部分包括利用化學(xué)氣相沉積法和電化學(xué)沉積法制備出ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列。利用該結(jié)構(gòu)設(shè)計出ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器,并闡述此結(jié)構(gòu)器件...
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【文章目錄】:
中文摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 紫外探測器
1.2.1 紫外探測器的歷史及應(yīng)用
1.2.2 紫外探測器的原理
1.3 ZnO紫外探測器的研究概況
1.3.1 光電導(dǎo)型紫外探測器
1.3.2 光伏型紫外探測器
1.4 本論文主要研究內(nèi)容
第二章 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器
2.1 垂直p-n結(jié)器件的應(yīng)用
2.2 NiO/ZnO薄膜材料的制備與表征
2.2.1 NiO薄膜材料的制備與表征
2.2.2 ZnO薄膜材料的制備與表征
2.3 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器工作原理及性能測試
2.3.1 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器工作原理
2.3.2 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器性能測試
2.4 本章小結(jié)
第三章 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器
3.1 核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)的應(yīng)用
3.2 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.2.1 ZnO納米線陣列的制備與表征
3.2.2 ZnO/CdS核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.2.3 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.3 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器工作原理及性能測試
3.3.1 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器工作原理
3.3.2 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器的性能測試
3.4 本章小結(jié)
第四章 總結(jié)與展望
參考文獻(xiàn)
致謝
本文編號:3756490
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
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中文摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 紫外探測器
1.2.1 紫外探測器的歷史及應(yīng)用
1.2.2 紫外探測器的原理
1.3 ZnO紫外探測器的研究概況
1.3.1 光電導(dǎo)型紫外探測器
1.3.2 光伏型紫外探測器
1.4 本論文主要研究內(nèi)容
第二章 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器
2.1 垂直p-n結(jié)器件的應(yīng)用
2.2 NiO/ZnO薄膜材料的制備與表征
2.2.1 NiO薄膜材料的制備與表征
2.2.2 ZnO薄膜材料的制備與表征
2.3 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器工作原理及性能測試
2.3.1 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器工作原理
2.3.2 NiO/ZnO垂直p-n結(jié)薄膜紫外探測器性能測試
2.4 本章小結(jié)
第三章 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器
3.1 核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)的應(yīng)用
3.2 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.2.1 ZnO納米線陣列的制備與表征
3.2.2 ZnO/CdS核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.2.3 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列的制備與表征
3.3 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器工作原理及性能測試
3.3.1 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器工作原理
3.3.2 ZnO/CdS/CdTe核殼結(jié)構(gòu)納米線陣列徑向p-n結(jié)紫外探測器的性能測試
3.4 本章小結(jié)
第四章 總結(jié)與展望
參考文獻(xiàn)
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本文編號:3756490
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