近些年來,半導(dǎo)體照明在工業(yè)領(lǐng)域和日常生活中的應(yīng)用越來越廣泛,并且成為了學(xué)術(shù)研究的熱點(diǎn)。GaN基LED的襯底材料主要有藍(lán)寶石、碳化硅、硅三種,而硅襯底LED相比其他兩種具有低成本、導(dǎo)電好、熱導(dǎo)率高等優(yōu)點(diǎn),但是對于硅襯底LED的研究比較少。另外,硅襯底LED的可靠性關(guān)系著產(chǎn)品工藝的改進(jìn)和產(chǎn)業(yè)化,其壽命又是LED可靠性的終極表現(xiàn)形式,因此對硅襯底LED可靠性測試和壽命模型的研究顯得尤為重要。針對以上原因,本文進(jìn)行了如下幾方面的研究工作:1.本文搭建了一套LED的可靠性自動測試系統(tǒng),將LED的光、色、電、熱參數(shù)的測試有機(jī)結(jié)合起來,編寫PC端軟件,實(shí)現(xiàn)LED測試的自動化控制。另外在LED溫度控制方面,設(shè)計(jì)了一種多路隔離的Modbus協(xié)議轉(zhuǎn)換器,能夠?qū)⒍鄠�溫箱接入以太網(wǎng)進(jìn)行異地控制,提高了試驗(yàn)效率。這套測試系統(tǒng)為硅襯底LED的可靠性測試和壽命預(yù)測研究提供了數(shù)據(jù)支撐。2.本文以硅襯底LED的LM-80-08測試數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),提出了基于遺傳算法優(yōu)化的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的LED壽命預(yù)測模型,將LM-80-08測試報(bào)告中的電流、結(jié)溫、初始光通量和初始色坐標(biāo)作為網(wǎng)絡(luò)的輸入,LED在該種應(yīng)力條件下的壽命為輸出,可以預(yù)... 

【文章頁數(shù)】：90 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖１－１器件洛盆曲線規(guī)律??由圖１－１的曲線可以看出，器件的失效大體分為三個階段，下面進(jìn)行簡單的介??－

圖２－１恒定應(yīng)力試驗(yàn)??

圖２－２步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)??３．序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)??


本文編號：3713764