IC作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基石,在現(xiàn)代社會發(fā)展中占據(jù)著舉足輕重的地位。隨著So C（System on Chip）設(shè)計的集成度和復(fù)雜度的日益攀升,芯片驗證在整個芯片研發(fā)過程中所占的比重也在日益增加,但芯片驗證技術(shù)卻并未跟上So C發(fā)展的步伐,這使得芯片設(shè)計周期被拉長,大大增加了芯片研發(fā)成本。所以,研究一種先進(jìn)高效的芯片驗證方法已迫在眉睫。芯片驗證的核心是驗證方法學(xué),UVM（Universal Verification Methodologhy）作為芯片驗證行業(yè)最新的驗證標(biāo)準(zhǔn),綜合了VMM（Verification Methodology Manual）和OVM（Open Verification Methodology）的優(yōu)點,是一套高效的驗證環(huán)境開發(fā)庫。NAND Flash（與非性閃存）作為一款兼具非易失性、存儲容量大和讀寫速度快等優(yōu)點的存儲器,在存儲領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。文章基于So C芯片設(shè)計的Flash控制器的特點,采用UVM對固態(tài)硬盤中的Flash控制器模塊進(jìn)行可重用的模塊級驗證仿真,確�？刂破髂K的設(shè)計符合規(guī)范。本文首先分析了UVM驗證方法學(xué)的發(fā)展現(xiàn)狀,指出了UVM驗證方法學(xué)的... 

【文章頁數(shù)】：68 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 選題背景與意義
    1.2 國內(nèi)外研究狀況
    1.3 本文主要研究內(nèi)容和章節(jié)安排
第二章 驗證方法學(xué)
    2.1 驗證基礎(chǔ)理論
    2.2 SystemVerilog語言
    2.3 UVM驗證方法學(xué)
        2.3.1 驗證平臺
        2.3.2 驗證平臺組件
        2.3.3 UVM的類庫
        2.3.4 UVM的樹形結(jié)構(gòu)
        2.3.5 UVM中的transaction
        2.3.6 UVM中的factory機制
        2.3.7 UVM中的objection機制
        2.3.8 UVM中的phase機制
        2.3.9 UVM中的sequence機制
        2.3.10 UVM中的寄存器模型
    2.4 本章小結(jié)
第三章 Flash控制器模塊的UVM驗證方案
    3.1 硬件設(shè)計框架
        3.1.1 Flash控制器模塊架構(gòu)
        3.1.2 Flash系統(tǒng)
    3.2 Flash控制器模塊功能介紹
        3.2.1 支持主機訪問
        3.2.2 支持多Plane操作
        3.2.3 支持多CE寫入
        3.2.4 支持CRC校驗
    3.3 Flash控制器模塊的狀態(tài)機設(shè)計
        3.3.1 寫入數(shù)據(jù)狀態(tài)機
        3.3.2 讀取數(shù)據(jù)狀態(tài)機設(shè)計
        3.3.3 擦除數(shù)據(jù)狀態(tài)機設(shè)計
        3.3.4 設(shè)置模塊狀態(tài)機設(shè)計
    3.4 Flash控制器模塊的UVM驗證方案
        3.4.1 驗證策劃
        3.4.2 驗證方案架構(gòu)
    3.5 本章小結(jié)
第四章 UVM驗證組件的實現(xiàn)
    4.1 UVM驗證平臺的transaction
    4.2 UVM驗證平臺的interface
    4.3 UVM驗證平臺的sequence機制
        4.3.1 UVM驗證平臺的sequencer
        4.3.2 UVM驗證平臺的sequence
    4.4 UVM驗證平臺的driver組件
    4.5 UVM驗證平臺的monitor
    4.6 UVM驗證平臺的referencemodel
    4.7 UVM驗證平臺的scoreboard
    4.8 UVM驗證平臺的agent
    4.9 UVM驗證平臺的env
    4.10 UVM驗證平臺的base_test
    4.11 UVM驗證平臺的top
    4.12 本章小結(jié)
第五章 Flash控制器模塊的驗證仿真
    5.1 測試用例及仿真
        5.1.1 冒煙測試
        5.1.2 讀寫功能測試
        5.1.3 ECC糾錯功能測試
    5.2 驗證平臺覆蓋率
    5.3 Flash控制器模塊應(yīng)用實物圖
    5.4 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
    6.1 總結(jié)
    6.2 展望
參考文獻(xiàn)
致謝
附錄


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]面向NAND Flash存儲的糾錯編碼技術(shù)概述[J]. 彭福來,于治樓,陳乃闊,耿士華,畢研山.  計算機與現(xiàn)代化. 2017(11)
[2]基于貪婪策略的NAND FLASH存儲器的磨損均衡算法研究[J]. 賈鑫,張少平.  計算機科學(xué). 2017(S2)
[3]用于NAND FLASH的糾檢錯算法的FPGA實現(xiàn)[J]. 鄭晶晶,袁素春,王娜,孫鈺林.  空間電子技術(shù). 2017(05)
[4]NAND閃存市場持續(xù)高漲,2020年將超DRAM[J]. 迎九.  電子產(chǎn)品世界. 2017(10)
[5]關(guān)于NAND閃存損耗均衡算法的優(yōu)化[J]. 趙峰,劉博妍,朱戈.  南華大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2017(03)
[6]基于SystemC和SystemVerilog的聯(lián)合仿真平臺設(shè)計[J]. 盧艷君.  科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新. 2017(27)
[7]存儲測試系統(tǒng)中FLASH的存儲可靠性技術(shù)研究[J]. 高陽,王代華,王曉楠.  現(xiàn)代電子技術(shù). 2017(18)
[8]基于UVM高速SERDES的數(shù)字系統(tǒng)驗證[J]. 徐波.  電子科學(xué)技術(shù). 2017(05)
[9]UVM和Matlab的聯(lián)合仿真方法及應(yīng)用[J]. 張少真,成丹,劉學(xué)毅.  中國集成電路. 2017(09)
[10]基于UVM實現(xiàn)SD存儲控制器的功能驗證[J]. 牛玉坤,孟令琴.  工業(yè)控制計算機. 2017(08)

博士論文
[1]基于閃存的索引機制研究[D]. 楊程程.中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2017

碩士論文
[1]基于UVM技術(shù)的I~2S驗證IP的研究[D]. 袁琳.合肥工業(yè)大學(xué) 2017
[2]基于UVM的EMMC控制器模塊驗證[D]. 劉麗麗.杭州電子科技大學(xué) 2017
[3]基于UVM的射頻基帶電路驗證平臺的設(shè)計與實現(xiàn)[D]. 葉海榮.中國科學(xué)院大學(xué)(工程管理與信息技術(shù)學(xué)院) 2016
[4]NAND Flash錯誤特性模型及應(yīng)用研究[D]. 王世元.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2016
[5]基于NAND Flash陣列的高速大容量圖像存儲器設(shè)計[D]. 江旭東.中北大學(xué) 2016
[6]UVM驗證方法學(xué)在SSD主控SoC芯片驗證中的應(yīng)用[D]. 桂瑋楠.東南大學(xué) 2015
[7]面向DSP芯片統(tǒng)一驗證平臺的研究與實現(xiàn)[D]. 歐明雙.合肥工業(yè)大學(xué) 2009



本文編號：3674246