對(duì)采用制冷型長(zhǎng)波紅外探測(cè)器的光學(xué)系統(tǒng),設(shè)計(jì)了一個(gè)二次成像三片鍺透鏡的會(huì)聚系統(tǒng)。提出了一種低噪聲折射式紅外光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)化設(shè)計(jì)方法,并對(duì)比傳統(tǒng)雜散輻射抑制優(yōu)化設(shè)計(jì)方法,利用Tracepro進(jìn)行仿真分析,抑制結(jié)果表明,新的低噪聲優(yōu)化設(shè)計(jì)方法對(duì)雜散輻射抑制較傳統(tǒng)方法提升23.87%,提升效果明顯。 

【文章來(lái)源】：電光與控制. 2020,27(03)北大核心CSCD

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【部分圖文】：

近軸光線追跡和近軸光線表面轉(zhuǎn)換

CODEV軟件內(nèi)置Narcissus分析計(jì)算每個(gè)面冷反射的方法是:追跡一束光線,從探測(cè)器到該面,再?gòu)脑撁娣瓷涞嚼淦?計(jì)算點(diǎn)列圖上有多少光線通過(guò)冷屏口徑,還要考慮往返過(guò)程中各個(gè)通光孔徑對(duì)光線的切割�？梢杂脕�(lái)分析系統(tǒng)鏡面的冷反射最為有效的兩個(gè)數(shù)據(jù)分別是YNI值和I/IBAR值,YNI為近軸邊緣光線高度與表面材料和邊緣光線入射角乘積,其中,Y為邊緣光線高度,I為邊緣光線入射角,N為表面材料折射率;I/IBAR為近軸邊緣光線入射角與近軸主光線入射角的比值。這兩個(gè)評(píng)價(jià)分析數(shù)值越大,則此面產(chǎn)生的冷反射強(qiáng)度越弱,如圖2所示。2 光學(xué)設(shè)計(jì)

使用CODEV進(jìn)行傳統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計(jì)時(shí),為了避免系統(tǒng)產(chǎn)生冷反射,使每一片透鏡的YNI的絕對(duì)值盡量大于1,使像面發(fā)出的冷光盡量反射到鏡筒上,從而減少經(jīng)光學(xué)鏡片反射回探測(cè)器的冷反射,光學(xué)系統(tǒng)如圖3所示。系統(tǒng)冷反射分析見(jiàn)表1,系統(tǒng)各面YNI值均大于1。將上述構(gòu)型導(dǎo)入Tracepro中進(jìn)行光線追跡,光線路徑表見(jiàn)表2,其中,T表示透射,R表示反射,S1表示光學(xué)表面1,以此類(lèi)推。

【參考文獻(xiàn)】：
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