由于基于40μm保偏光纖的商用光纖器件制作技術和保偏熔接技術尚不成熟,一般的保偏光纖參數(shù)測量方法很難直接應用。文章提出在1根40μm保偏光纖上完成超輻射發(fā)光二極管（SLD）耦合對接和光纖偏振器在線制作,構建出一套簡單的偏光干涉裝置,利用調制光譜可同時實現(xiàn)拍長和雙折射溫度系數(shù)的測量。文章分別從理論和實驗上對測量方法進行了闡述和驗證。所提方法同樣適用于其他直徑的保偏光纖參數(shù)測量。 

【文章來源】：光通信研究. 2020,(06)北大核心

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

40 μm保偏光纖參數(shù)測量裝置示意圖

圖2所示為對調制光譜周期與光纖長度倒數(shù)的實測值進行線性擬合后的曲線,線性擬合函數(shù)為y=2.698 47x-0.040 09,斜率為2.698 47 nm/m-1,代入式(4)可計算出光纖拍長B=2.698 47×10-9/=3.2 mm。2.2 雙折射溫度系數(shù)測量

實驗中SLD芯片與偏振器芯片之間的保偏光纖總長為193.0 cm,將中間40 cm的保偏光纖(即 L2=40 cm)固定到加熱臺上,控制加熱臺從25 ℃開始以0.5 ℃/min的升溫速率加熱到75 ℃,每2 ℃記錄一次光譜數(shù)據(jù),此條件下測量的調制光譜沒有發(fā)生跨條紋移動,圖3(a)所示為25和27 ℃下光譜儀記錄的調制光譜數(shù)據(jù),圖3(b)所示為局部放大圖。25 ℃下的某級峰值波長A點(854.4 nm)平移至27 ℃下的B點(853.9 nm),通過始終追蹤測量該峰值波長就可計算出波長隨溫度的平移速率。圖4所示為上述峰值波長隨溫度變化的關系數(shù)據(jù)和線性擬合后的曲線。由圖可知,隨著溫度的逐漸升高,峰值波長近似線性地向左平移,線性擬合函數(shù)為y=-0.279 25x+861.4,斜率k=-0.279 nm/℃,代入式(8)可得雙折射溫度系數(shù)為-4.2×10-7/℃。

【參考文獻】：
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碩士論文
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本文編號：3531106