光電成像設(shè)備主要由光學(xué)系統(tǒng)和成像電子學(xué)系統(tǒng)兩部分組成,成像質(zhì)量則是光電成像設(shè)備的核心關(guān)重指標(biāo)。調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）被業(yè)界公認(rèn)為最精確和最有效的光電成像系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法。傳統(tǒng)理論認(rèn)為光電成像系統(tǒng)影響MTF的主要環(huán)節(jié)是光學(xué)系統(tǒng),因此MTF測試能力均是圍繞光學(xué)產(chǎn)品構(gòu)建。近年來,伴隨著圖像傳感器技術(shù)的飛速發(fā)展和人們對像質(zhì)要求的日益提升,成像電子學(xué)系統(tǒng)性能對MTF的影響已然不可忽略,建立完善的成像電子學(xué)系統(tǒng)MTF測試能力勢在必行。本文圍繞成像電子學(xué)系統(tǒng)MTF測試技術(shù)和測試系統(tǒng)構(gòu)建展開了深入研究。圍繞對比度法測試成像電子學(xué)MTF中引入的誤差進(jìn)行了詳細(xì)的理論分析,得出對齊誤差、靶標(biāo)加工誤差和算法誤差為主要誤差源的結(jié)論,最終確定了測試系統(tǒng)構(gòu)建原則,既圍繞誤差抑制及優(yōu)化展開設(shè)計。圍繞測試需求和誤差分析開展了測試系統(tǒng)的詳細(xì)設(shè)計。創(chuàng)新地采用了“基于光學(xué)放大倍率的物面相位精密技術(shù)”,將相位對齊調(diào)節(jié)精度提升至0.02μm量級,有效提升了系統(tǒng)的測試重復(fù)性精度。對對比度法測試?yán)碚撍a(chǎn)生的“近似誤差”進(jìn)行了詳細(xì)的理論分析和數(shù)學(xué)建模,并展開了補償技術(shù)研究,綜合采樣積分和填充因子等影響因素建立了完善的算法補償模型,... 

【文章來源】：吉林大學(xué)吉林省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：51 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

MTF示意圖

測試系統(tǒng)功能圖

積分球反射率曲線及實物圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
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碩士論文
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[7]基于數(shù)字圖像處理的MTF測試及算法的研究[D]. 杜冰.南京理工大學(xué) 2010
[8]基于圖像處理的MTF測試系統(tǒng)研究[D]. 郭曉兵.南京理工大學(xué) 2009
[9]調(diào)制傳遞函數(shù)測試儀的自動調(diào)焦技術(shù)研究[D]. 孫文.南京理工大學(xué) 2009
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本文編號：3496038