為解決TiO₂納米顆粒紫外光探測(cè)器難以兼具高光響應(yīng)度和快響應(yīng)速率的問(wèn)題,制備了MgO阻擋層/TiO₂納米顆粒復(fù)合結(jié)構(gòu)的自供電紫外光探測(cè)器。其中,具有多分枝結(jié)構(gòu)的TiO₂納米顆粒提供較大比表面積,吸收紫外光子產(chǎn)生大量電子-空穴對(duì);而MgO阻擋層的主要作用是阻止電子和空穴復(fù)合,從而減少電子傳輸過(guò)程中的損失。該復(fù)合結(jié)構(gòu)紫外光探測(cè)器具有自供電性能,且兼具高光響應(yīng)度（0.76 A/W）和快響應(yīng)速率（上升時(shí)間和恢復(fù)時(shí)間分別為2.5 s和8.1 s）,與其他TiO₂納米結(jié)構(gòu)紫外光探測(cè)器相比性能優(yōu)異。 

【文章來(lái)源】：現(xiàn)代化工. 2020,40(02)北大核心CSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：4 頁(yè)

【部分圖文】：

MgO納米薄膜、Ti O2納米顆粒形貌表征

MgO/Ti O2、Ti O2的掃描電鏡圖如圖2所示。由圖2可以看出，大量的Ti O2納米顆粒沉積于FTO表面，當(dāng)Ti Cl4水解時(shí)間為24 h時(shí)，有、無(wú)MgO納米層存在的FTO基底表面沉積Ti O2納米顆粒厚度分別為11.78μm和1.14μm。但有MgO層存在時(shí)，具有分枝結(jié)構(gòu)的Ti O2納米顆粒厚度略高于空白FTO，這是因?yàn)镸gO納米層減小了FTO表面缺陷，更有利于Ti O2納米顆粒沉積。MgO/Ti O2納米顆粒復(fù)合結(jié)構(gòu)的XRD譜圖如圖3所示。由圖3可以看出，在24.4、36.1、41.2、54.3、65.5°和69.8°處均出現(xiàn)衍射峰，與Ti O2標(biāo)準(zhǔn)四方金紅石譜圖(JCPDS 21-1276)特征衍射峰位置相同。但由于MgO納米層極薄且含量較小，MgO特征衍射峰相對(duì)較小。圖3 MgO/Ti O2納米顆粒的XRD表征圖

MgO/Ti O2納米顆粒的XRD表征圖

【參考文獻(xiàn)】：
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博士論文
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本文編號(hào)：3468199