低功耗、高速度以及高精度是現(xiàn)在模數(shù)轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter,ADC）研究與設(shè)計(jì)的三大方向,不同特性的ADC適用于不同的應(yīng)用環(huán)境。近年來(lái),在移動(dòng)通信、傳感器、生物醫(yī)療等快速發(fā)展的領(lǐng)域中,對(duì)精確的數(shù)據(jù)信息、高質(zhì)量的音頻和圖像的要求越來(lái)越高,這就需要高精度的ADC處理更加微弱的模擬信號(hào)。作為ADC的核心模塊之一,比較器的精度、速度、穩(wěn)定性和噪聲對(duì)整體電路的性能起到關(guān)鍵性作用。通過(guò)對(duì)比較器幾種常用結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究和分析,設(shè)計(jì)了一款應(yīng)用于SAR（Successive Approach Register）ADC的比較器。首先本文對(duì)幾種常用的比較器進(jìn)行了介紹和分析,根據(jù)SAR ADC周期性量化的特點(diǎn),對(duì)離散型比較器進(jìn)行了分析,但由于單個(gè)Latch的比較器并不能實(shí)現(xiàn)低噪聲,故比較器的結(jié)構(gòu)采用級(jí)聯(lián)的多級(jí)前置運(yùn)放結(jié)合StrongARM Latch,對(duì)其工作原理和存在的非理想因素進(jìn)行了分析。基于此,為了減小這些非理想因素,對(duì)失調(diào)存儲(chǔ)、相關(guān)雙采樣、前置運(yùn)放等技術(shù)方法進(jìn)行了研究。并在多級(jí)比較器中使用這些技術(shù)以提高比較器的精度。隨后分析了SAR ADC對(duì)比較器的指標(biāo)要求,確定了比... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：86 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

前置運(yùn)放和Latch的響應(yīng)特性

第四章基于多級(jí)前置運(yùn)放結(jié)合動(dòng)態(tài)Latch結(jié)構(gòu)的低噪聲比較器設(shè)計(jì)與仿真47圖4-4TT下前置運(yùn)放的AC響應(yīng)和相位裕度2.運(yùn)放失調(diào)性能仿真對(duì)于前置運(yùn)放的失調(diào)電壓，通過(guò)500次的蒙特卡洛分析，在TT下的結(jié)果如圖4-5所示，輸出失調(diào)電壓值范圍為-161mV到+152mV，+3sigma值為137.5mV，標(biāo)準(zhǔn)差sigma值為45.4mV，而運(yùn)放的增益約為20dB，則等效到輸入端，等效輸入失調(diào)電壓最大值為15.2mV，3sigma值為13.75mV，sigma值為4.54mV。圖4-5單級(jí)運(yùn)放的失調(diào)電壓(輸出失調(diào)電壓)在電壓和溫度的四個(gè)工藝角下，其等效輸入失調(diào)電壓如表4-2所示。

第四章基于多級(jí)前置運(yùn)放結(jié)合動(dòng)態(tài)Latch結(jié)構(gòu)的低噪聲比較器設(shè)計(jì)與仿真47圖4-4TT下前置運(yùn)放的AC響應(yīng)和相位裕度2.運(yùn)放失調(diào)性能仿真對(duì)于前置運(yùn)放的失調(diào)電壓，通過(guò)500次的蒙特卡洛分析，在TT下的結(jié)果如圖4-5所示，輸出失調(diào)電壓值范圍為-161mV到+152mV，+3sigma值為137.5mV，標(biāo)準(zhǔn)差sigma值為45.4mV，而運(yùn)放的增益約為20dB，則等效到輸入端，等效輸入失調(diào)電壓最大值為15.2mV，3sigma值為13.75mV，sigma值為4.54mV。圖4-5單級(jí)運(yùn)放的失調(diào)電壓(輸出失調(diào)電壓)在電壓和溫度的四個(gè)工藝角下，其等效輸入失調(diào)電壓如表4-2所示。


本文編號(hào)：3458926