隨著電路工作頻率的不斷提高和系統(tǒng)供電電壓的不斷下降,由于同步開關(guān)噪聲（synchronous switching noise,SSN）和電壓降引起的電源完整性問題已成為高速電路中電源配送網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)的重要環(huán)節(jié)。由于高速電路中電源的不穩(wěn)定供電可能會(huì)給系統(tǒng)正常工作帶來(lái)致命的影響,因此有必要對(duì)高速電路系統(tǒng)中的電源完整性進(jìn)行分析。同時(shí),高頻工作下的電路會(huì)產(chǎn)生電磁輻射,隨之產(chǎn)生的電磁干擾（Electromagnetic Interference,EMI）會(huì)對(duì)整個(gè)電路系統(tǒng)的穩(wěn)定工作產(chǎn)生嚴(yán)重影響,因此有必要對(duì)高速電路中的電磁干擾進(jìn)行測(cè)量和分析。論文主要工作包括兩個(gè)方面:一、為了分析電源配送網(wǎng)絡(luò)中電源地平面部分的電源完整性問題,本文提出了一種基于加權(quán)拉蓋爾多項(xiàng)式-時(shí)域有限差分（Weighted Laguerre Polynomials Finite-Difference Time-domain,WLP-FDTD）的數(shù)值方法。論文首先對(duì)電源地平面建立等效模型,將三維問題簡(jiǎn)化成二維問題,求解噪聲在平面中的傳播,并且由于電源地平面中常存在間隙結(jié)構(gòu),基于路的模型,將平面分成兩部分,一部分為完整電源地平面,另一部分... 

【文章來(lái)源】：上海交通大學(xué)上海市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：73 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

電源地平面諧振產(chǎn)生的電壓分布

商用EMI掃描系統(tǒng)(a)美國(guó)API公司(b)德國(guó)LangerEMV-Technik公司(c)加拿大EMSCAN公司Fig.2-6CommercialEMIscanningsystem(a)APIfromAmerica(b)LangerEMV-TechnikfromGermany(c)EMSCANfromCanada

拉蓋爾基函數(shù)Fig.3-3Laguerrebasisfunction

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]集成電路的現(xiàn)狀及其發(fā)展趨勢(shì)[J]. 馮亞林,張蜀平.  微電子學(xué). 2006(02)
[2]中國(guó)集成電路的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)初析[J]. 閔昊.  電子技術(shù). 2004(01)

博士論文
[1]基于近場(chǎng)掃描的高速電路電磁輻射建模研究[D]. 項(xiàng)方品.浙江大學(xué) 2015
[2]FDTD改進(jìn)算法及其理想導(dǎo)體邊界實(shí)現(xiàn)[D]. 劉麗娜.西南交通大學(xué) 2014



本文編號(hào)：3395283