超聲掃描檢測因為其靈敏度高、對樣品沒有損傷的特點,被廣泛地應(yīng)用到塑封器件的篩選和檢測中,但是目前不存在一個完整的超聲掃描檢測方法。對塑封器件缺陷進(jìn)行分析,提出一種塑封器件缺陷的超聲掃描檢測方法。該方法采用A掃描與C掃描檢測塑封器件內(nèi)部的缺陷,其過程為塑封體缺陷檢測與重要界面缺陷檢測。與現(xiàn)有GJB 4027A要求的聚焦6個重要界面的檢測方法相比,本方法只需要聚焦兩個界面即可觀察到6個界面的情況,可以提升檢測效率。 

【文章來源】：電子器件. 2020,43(01)北大核心

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

塑封器件缺陷的超聲掃描檢測方法

#38空洞缺陷

#38空洞缺陷與正常位置波形對比

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號：3393691