鑒于當前雪崩光電二極管（APD）測試平臺存在設(shè)備冗雜、測試效率低等問題,設(shè)計了一套以現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）為控制核心,搭配高精度時間數(shù)字轉(zhuǎn)換芯片TDC-GPX的APD性能測試系統(tǒng),可實現(xiàn)APD性能參數(shù)的自動化測試。同時設(shè)計了一種穩(wěn)定單光子脈沖信號輸出方法,并提出了使用時間數(shù)字轉(zhuǎn)換進行光子計數(shù)及數(shù)據(jù)處理、后脈沖參數(shù)計算的設(shè)計方案。通過實驗驗證,測試系統(tǒng)集成光源信號半峰全寬為46.6 ps,峰值幅度為304.4 mV,幅值抖動為3.7%,滿足APD測試對輸入單光子源的要求。該測試系統(tǒng)能夠有效測試APD性能參數(shù),測試效率得到了極大提升。 

【文章來源】：量子電子學(xué)報. 2020,37(03)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

圖３所示，該模塊實現(xiàn)激光器光強的衰減及出口光強的監(jiān)控Ｗ，首先，ＤＦＢ激光器??


本文編號：3346841