開(kāi)關(guān)電源廣泛用于各類(lèi)電子產(chǎn)品,其電磁干擾問(wèn)題越來(lái)越受到關(guān)注,用于預(yù)測(cè)開(kāi)關(guān)電源電磁干擾特性的仿真方法研究日趨活躍。本文以開(kāi)關(guān)電源的PCB為對(duì)象,研究了三種不同情況下的仿真建模方法,以期為電源PCB電磁干擾特性的預(yù)測(cè)提供指導(dǎo)。具體研究?jī)?nèi)容如下:（1）DC/DC開(kāi)關(guān)電源PCB的設(shè)計(jì)與近場(chǎng)輻射特性仿真及實(shí)驗(yàn)。根據(jù)開(kāi)關(guān)電源的原理設(shè)計(jì)以LM2578為核心控制器件的PCB原理圖和線路圖,并通過(guò)制板、元器件焊接與調(diào)試得到其實(shí)物;利用PCB的線路圖在CST中建立仿真模型,并計(jì)算其近場(chǎng)輻射特性;使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭與頻譜儀等設(shè)備,測(cè)試其近場(chǎng)輻射;最后將近場(chǎng)輻射仿真與實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較,驗(yàn)證仿真建模方法的正確性。（2）AC/DC電源PCB設(shè)計(jì)與設(shè)備級(jí)電磁輻射仿真及實(shí)驗(yàn)。以LM7805為核心器件設(shè)計(jì)電源PCB的原理圖和線路圖,以LM358為核心器件設(shè)計(jì)蜂鳴器報(bào)警電路PCB的原理圖和線路圖,通過(guò)制板、元器件焊接與調(diào)試得到各自實(shí)物,通過(guò)線纜將兩PCB與設(shè)計(jì)制做的屏蔽腔體連接成設(shè)備;在CST中將兩PCB和內(nèi)外部線纜分別進(jìn)行建模,并計(jì)算合成設(shè)備的電磁輻射特性仿真結(jié)果;同時(shí)參照國(guó)家相關(guān)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),在微波暗室中采用測(cè)試天線對(duì)整... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：83 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

CE102限值

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文8而諸如其他測(cè)試傳導(dǎo)干擾的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)不同工況、不同頻率、不同受試設(shè)備之間合理選擇，CE101標(biāo)準(zhǔn)適用于25Hz-10kHz頻段的水面艦船、飛機(jī)等上面電源線上的傳導(dǎo)干擾檢測(cè)；CE106標(biāo)準(zhǔn)適用于10kHz-40GHz天線端口的傳導(dǎo)發(fā)射，多用于發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和放大器的天線端口；CE107標(biāo)準(zhǔn)適用于因開(kāi)關(guān)操作而可能在直流或交流電源線上產(chǎn)生尖峰信號(hào)的工況下。針對(duì)電子產(chǎn)品的輻射干擾試驗(yàn)來(lái)說(shuō)，在眾多EMC認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中多為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量，而遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量只是給出一個(gè)較精確的超標(biāo)的幅值頻譜圖，無(wú)法精確到產(chǎn)品具體何處超標(biāo)或者何處電磁泄露較大，因此在近場(chǎng)測(cè)試產(chǎn)品設(shè)備的輻射值時(shí)，工程師可用近場(chǎng)探頭連接放大器，后級(jí)再連接接收機(jī)或者頻譜儀，如圖1-4所示，進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)試，此種實(shí)驗(yàn)方法可具體定位干擾源，提高測(cè)試的靈活性。圖1-4近場(chǎng)探頭測(cè)試頻譜儀是一臺(tái)在一定頻率范圍內(nèi)掃描的接收機(jī)，采用頻率掃描超外差的工作方式。相對(duì)于時(shí)域信號(hào)來(lái)說(shuō)，信號(hào)在所有特征中，頻率特征是最穩(wěn)定的，頻譜儀是直接得到頻域下的結(jié)果，從而較簡(jiǎn)單的就可以判斷出干擾信號(hào)的頻率。然而近場(chǎng)EMI測(cè)量的問(wèn)題在于使用近場(chǎng)探頭的測(cè)量結(jié)果并不是最終的電場(chǎng)值或者磁場(chǎng)值，搭接近場(chǎng)探頭的頻譜儀測(cè)試結(jié)果多為功率或電壓頻譜圖，需要經(jīng)過(guò)一定公式理論換算成電場(chǎng)值或磁場(chǎng)值，因此近場(chǎng)測(cè)試的方法多用于診斷具體是何處泄露嚴(yán)重。另外，在多數(shù)認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量，測(cè)試方法按照GJB151B-2013《軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射與敏感度要求與測(cè)量》中的標(biāo)準(zhǔn)在如圖1-5暗室中實(shí)驗(yàn)，此種方法成本高，所花時(shí)間久，但是結(jié)果精確。被測(cè)設(shè)備近場(chǎng)探頭放大器接收機(jī)或頻譜儀

第一章緒論9圖1-5暗室在暗室中使用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的各類(lèi)天線進(jìn)行測(cè)試，如圖1-6為桿天線、雙錐天線、雙脊喇叭天線，而且不同的天線對(duì)應(yīng)著不同的測(cè)試頻段，可依據(jù)具體的實(shí)驗(yàn)要求進(jìn)行輻射發(fā)射的精確測(cè)試。(a)(b)(c)圖1-6測(cè)試天線。(a)桿天線；(b)雙錐天線；(c)雙脊喇叭天線

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本文編號(hào)：3334303