隨著片上系統(tǒng)（System-on-a-Chip,SoC）的集成度以及設(shè)計復(fù)雜性的提高,芯片測試遇到了巨大的挑戰(zhàn)。一方面IP（Intellectual Property）復(fù)用技術(shù)能加快SoC的設(shè)計過程,提高系統(tǒng)集成度,使單一芯片功能更多、性能更強(qiáng)大;另一方面隨著單芯片上集成IP核數(shù)量的增加,SoC的設(shè)計復(fù)雜度和電路規(guī)模急劇上升,導(dǎo)致SoC測試面臨巨大的挑戰(zhàn)。因此,如何利用有限的測試芯片管腳實現(xiàn)SoC的可測性設(shè)計,降低層次化嵌入式內(nèi)核的測試難度以及驗證測試SoC的測試向量,已經(jīng)成為芯片設(shè)計、測試與生產(chǎn)中的重要問題。本文在給出了數(shù)字電路以及SoC常采用的可測性設(shè)計技術(shù)的基本原理與實現(xiàn)方法后,針對目前SoC測試遇到的問題與不足,基于一款具有373萬觸發(fā)器、9個嵌入式內(nèi)核的SoC,進(jìn)行了可測性設(shè)計與實現(xiàn),并通過仿真驗證證明了設(shè)計方法的可行性。本文的主要內(nèi)容如下:（1）面向超大規(guī)模集成電路的掃描測試設(shè)計,針對SoC測試芯片管腳資源有限的問題,設(shè)計完成了一種共享芯片管腳的測試塊規(guī)劃,對各個嵌入式內(nèi)核的測試資源分配進(jìn)行了合理的安排。然后基于可測性設(shè)計工具DFT Compiler給出了SoC頂層的掃描測... 

【文章來源】：西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：88 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

單晶體管的測試費用與制造費用[3]

數(shù)字電路的可測性分析與測試向量生成，常用故的缺陷。良好的故障模型應(yīng)該能夠準(zhǔn)確地反映向量生成過程中能夠具有足夠高的計算效率。工型（Stuck-atfaultmodel）與轉(zhuǎn)換故障模型（Trans邏輯故障模型，會影響邏輯電路中線路的邏輯t，PI）、主輸出（PrimaryOutput，PO）、內(nèi)部t 1 故障代表由于制造缺陷，邏輯門的一個管腳代表由于制造缺陷，邏輯門的一個管腳被固定最簡單也是最流行的一種故障模型，因為它可能資源的占用，從而減少故障模擬與測試向量要正確的執(zhí)行邏輯功能操作，還需要滿足一定內(nèi)沿路徑傳播正確的邏輯信號，業(yè)界最常用的延型中邏輯門的輸入或輸出端口會有慢上升（Slo遲故障，慢上升延遲故障如圖 2.1 所示。

Preview_dft報告

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]SOC嵌入式數(shù)字IP核通用測試方法[J]. 馬昕煜,徐瀚洋,王健.  微電子學(xué)與計算機(jī). 2019(02)
[2]測試成本的挑戰(zhàn)及對策[J]. 章慧彬.  電子與封裝. 2018(05)
[3]SoC設(shè)計方法及發(fā)展淺述[J]. 潘秀麗.  輕工科技. 2017(06)
[4]基于IEEE 1500的嵌入式芯核外殼測試封裝設(shè)計[J]. 陳泳宇,陳圣儉,朱曉兵,李廣進(jìn).  微電子學(xué). 2014(05)
[5]邊界掃描測試技術(shù)發(fā)展綜述[J]. 劉九洲,王健.  電光與控制. 2013(02)
[6]SoC測試性設(shè)計和驗證方法關(guān)鍵技術(shù)研究[J]. 葛鵬岳,黃考利,連光耀,徐建芬.  儀表技術(shù). 2010(03)
[7]最新SOC測試的發(fā)展趨勢[J]. 孫亞春.  中國集成電路. 2009(06)
[8]SOC的可測性設(shè)計策略[J]. 徐智偉,張盛兵.  計算機(jī)測量與控制. 2008(08)
[9]SoC設(shè)計的關(guān)鍵技術(shù)[J]. 汪健.  集成電路通訊. 2006(01)
[10]應(yīng)用于邏輯核的BIST關(guān)鍵技術(shù)研究[J]. 李吉,徐勇軍,韓銀和,李曉維.  計算機(jī)工程. 2005(23)

碩士論文
[1]一款多核SoC的可測性設(shè)計研究[D]. 冶小剛.西安電子科技大學(xué) 2018
[2]基于IEEE標(biāo)準(zhǔn)的SOC測試調(diào)度控制網(wǎng)絡(luò)的研究與實現(xiàn)[D]. 魏可望.西安電子科技大學(xué) 2018
[3]基于JTAG標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試技術(shù)的分析與研究[D]. 王鏖淯.西安電子科技大學(xué) 2014
[4]邊界掃描測試技術(shù)的分析與研究[D]. 楊軍.西安電子科技大學(xué) 2011



本文編號：3276185