發(fā)布時(shí)間：2021-06-16 13:44

　　利用高密度聚氯乙烯膜（HDPE）缺陷區(qū)與完整區(qū)同時(shí)刻溫差特性,采用紅外熱成像技術(shù)對(duì)高密度聚氯乙烯膜進(jìn)行缺陷檢測(cè)。在持續(xù)熱源作用下,對(duì)不同面積及形狀的缺陷進(jìn)行紅外圖像采集,記錄膜表面不同區(qū)域的溫度,分析不同位置溫度及紅外缺陷陰影區(qū)隨時(shí)間的變化規(guī)律,提取溫度特征曲線及缺陷最佳檢測(cè)時(shí)間范圍。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:缺陷區(qū)與完整區(qū)溫度隨時(shí)間變化趨勢(shì)整體相同,但在相同時(shí)刻存在溫度差異且紅外圖像采集時(shí)間為10～20 min內(nèi)溫差值最明顯,可視為缺陷最佳檢測(cè)時(shí)間域,紅外熱像采集時(shí)間為13 min時(shí),紅外圖像邊緣輪廓與實(shí)缺陷輪廓基本一致,該時(shí)間為最佳檢測(cè)時(shí)間點(diǎn)。 

【文章來(lái)源】：紅外技術(shù). 2020,42(06)北大核心CSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【部分圖文】：

不同加熱時(shí)間段熱像圖Fig.4Thermalimagewithoutheatingperiod

第42卷第6期Vol.42No.62020年6月陳亞宇等：基于紅外成像技術(shù)的填埋場(chǎng)裸膜缺陷檢測(cè)研究June2020601為進(jìn)一步分析HDPE膜缺陷狀況，提取了實(shí)驗(yàn)缺陷區(qū)和正常區(qū)表面的溫度曲線進(jìn)行分析。缺陷區(qū)和正常區(qū)表面溫度曲線如圖5所示，由圖5可知：缺陷區(qū)與完整區(qū)溫度變化趨勢(shì)整體相同，主要是由于缺陷區(qū)濕潤(rùn)土層和HDPE膜完整區(qū)處在相同的作用環(huán)境下；但在10～20min時(shí)相對(duì)溫差值較大，紅外熱像儀能明顯捕捉缺陷區(qū)位置，主要是由于濕潤(rùn)土層及HDPE膜材質(zhì)不同，導(dǎo)熱率差異明顯，最終會(huì)導(dǎo)致在相同時(shí)間段內(nèi)出現(xiàn)溫差值。同時(shí)由圖5可以進(jìn)一步看出在t＝13min時(shí)，溫差值最大，觀測(cè)到的結(jié)果更加明顯。圖4不同加熱時(shí)間段熱像圖Fig.4Thermalimagewithoutheatingperiod圖5HDPE膜缺陷區(qū)與完整區(qū)溫度曲線對(duì)比圖Fig.5HDPEfilmdefectareaandcompleteareatemperaturecurvecomparisonchartTime/min

?和完整區(qū)會(huì)識(shí)別溫差區(qū)域理如圖1所示降溫處理，在既集路線對(duì)HD位于正常區(qū)時(shí)陳亞宇，符合要求缺陷[6]。該方法確定具體缺易對(duì)HDPE膜脅。針對(duì)HDP]，即預(yù)先在給場(chǎng)內(nèi)外電來(lái)分析破損位效果，但整套系場(chǎng)成本增加術(shù)的填埋場(chǎng)裸前述檢測(cè)方料進(jìn)行直接接結(jié)果的可視膜缺陷區(qū)與完同缺陷、不同像采集，根據(jù)缺出最佳檢測(cè)時(shí)損檢測(cè)方法提裸膜缺陷的原層濕潤(rùn)，由于濕數(shù)差異明顯，出現(xiàn)同步溫域可以很好地示，首先由水既定時(shí)間內(nèi)由DPE膜進(jìn)行全時(shí)，采集結(jié)果的Fig.1宇等：基于紅外成；若壓力值變法原理簡(jiǎn)單且陷位置，且在膜造成損傷，PE膜平面缺膜上噴射水極供電，由滲位置。該方法對(duì)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜。因此本文提裸膜缺陷檢測(cè)法相比，其優(yōu)接觸，避免了性好，能精準(zhǔn)完整區(qū)進(jìn)行紅同時(shí)間段狀況缺陷區(qū)與正常時(shí)間段。從而提供理論依據(jù)原理為：水流濕潤(rùn)土壤層和，在持續(xù)熱源差特性，通過(guò)地檢測(cè)到缺陷水流對(duì)HDPE由紅外熱像儀全方位采集。的熱對(duì)比值無(wú)圖1紅外成Infraredimag成像技術(shù)的填埋變化且能在充對(duì)缺陷，流，滲漏對(duì)裸雜而提出測(cè)方優(yōu)勢(shì)了對(duì)準(zhǔn)地紅外況的常區(qū)而為。流使和完源作過(guò)紅陷區(qū)E膜儀按。當(dāng)無(wú)明顯變對(duì)比1.2程，在導(dǎo)式中處介式中密度對(duì)環(huán)濕潤(rùn)溫度濕潤(rùn)因此＜T與缺HD最終外圖膜缺像檢測(cè)HDPEgingdetectiono埋場(chǎng)裸膜缺陷檢變化，當(dāng)紅外比值差異明顯缺陷檢測(cè)模熱波在HD為檢測(cè)缺陷導(dǎo)熱系數(shù)確定kT(x針對(duì)平面熱中：代表梯介質(zhì)深度，t將式(2)帶入22(,)/Txt

【參考文獻(xiàn)】：
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