碳化硅功率器件在交流伺服驅(qū)動器中的應(yīng)用研究
發(fā)布時間:2021-06-09 21:21
隨著社會的不斷發(fā)展進(jìn)步,工業(yè)、民用以及軍工等應(yīng)用領(lǐng)域自動化水平的日益提高,對以永磁同步電機(jī)為控制對象的交流伺服驅(qū)動系統(tǒng)的需求日益增長。一些領(lǐng)域諸如電動汽車、機(jī)器人、醫(yī)療器械、數(shù)控設(shè)備等,在對交流伺服系統(tǒng)性能日益提出更高要求的同時,對交流伺服系統(tǒng)的功率密度、體積、效率、以及環(huán)境溫度耐受能力等也逐漸提出具體要求。鑒于此,本文對新型SiC MOSFET功率器件在交流伺服驅(qū)動器中的應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了研究,分析了SiC MOSFET相比Si IGBT的優(yōu)良性能,研究了SiC MOSFET的應(yīng)用對于提高交流伺服驅(qū)動器功率密度及其伺服性能的可行性,為交流伺服驅(qū)動器的工程設(shè)計提供理論依據(jù)和實(shí)踐指導(dǎo)。首先分析了SiC MOSFET的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)及其動、靜態(tài)特性;進(jìn)一步分析了SiC MOSFET的開關(guān)過程,并討論了寄生電容對開關(guān)過程的影響;給出了SiC MOSFET的三種穩(wěn)態(tài)工作狀態(tài),指出SiC MOSFET功率器件相比Si IGBT功率器件具有更小的導(dǎo)通電阻、更低的閾值電壓和更快的開關(guān)速度。分析了交流伺服驅(qū)動器主回路逆變電路的各個橋臂功率器件的開關(guān)及導(dǎo)通過程,在此基礎(chǔ)上分析了逆變電路的損耗組成,給出了功率器件損...
【文章來源】:冶金自動化研究設(shè)計院北京市
【文章頁數(shù)】:91 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
SiCMOSFET的器件符號和元胞結(jié)構(gòu)示意圖
(a)C2M0080120D 輸出特性 圖 2-2 SiC MOSFET 與 從圖 2-2(b)可見 SiIGBT 的輸出特性在SiC MOSFET 由于其較小的跨導(dǎo)值,在柵極較大的變化,柵極電壓對漏極電流上升速度夠有效導(dǎo)通,SiC MOSFET 驅(qū)動電壓要比常b) 轉(zhuǎn)移特性圖 2-3 所示為 SiC MOSFET 和 Si IGBT移特性上,SiCMOSFET 的與 IGBT 有很大區(qū)8.5V 時,集電極電流具有負(fù)溫度系數(shù),而 S才可能表現(xiàn)負(fù)溫度系數(shù),其驅(qū)動電壓在正溫因電流的沖擊發(fā)熱增多,其溫度短暫上升,從
VGS(V)Gate-Emi 的轉(zhuǎn)移特性(SiC MOSFET) (b)SKW15N120 的 2-3 SiC MOSFET 和 IGBT 的轉(zhuǎn)移特性曲線圖功率元器件導(dǎo)通電阻的主要來源,導(dǎo)通電阻的比 Si 材料,SiC 的高絕緣擊穿場強(qiáng)使其能夠件雜質(zhì)濃度可以更高、漂移層可以更薄,從而理論上,在相同的耐壓條件,SiC 的漂移層的一,目前,SiC 器件已能夠以很低的導(dǎo)通電阻iC 和 Si 材料器件在不同耐壓等級下通態(tài)電阻等級下,SiC 材料器件的導(dǎo)通電阻遠(yuǎn)小于 S 器件仍保持較低的導(dǎo)通電阻。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]碳化硅MOSFET反向?qū)ㄌ匦越Q芯縖J]. 周志達(dá),葛瓊璇,趙魯,楊博. 電工電能新技術(shù). 2018(10)
[2]第三代半導(dǎo)體帶來的機(jī)遇與挑戰(zhàn)[J]. 林佳,黃浩生. 集成電路應(yīng)用. 2017(12)
[3]SiC MOSFET短路保護(hù)電路研究[J]. 武晶晶,郭希錚,李志堅,鄭建朋. 電力電子技術(shù). 2017(09)
[4]SiC MOSFET驅(qū)動電路設(shè)計與實(shí)驗(yàn)分析[J]. 鄒世凱,胡冬青,黃仁發(fā),崔志行,梁永生. 電氣傳動. 2017(09)
[5]SiC MOSFET晶體管會是下一個器件領(lǐng)跑者[J]. 半導(dǎo)體信息. 2017(04)
[6]槽型SiC MPS二極管的優(yōu)化設(shè)計[J]. 何清源,廖天,張凱,羅小蓉,方健,王嘉銘,楊霏. 智能電網(wǎng). 2017(08)
[7]高開關(guān)頻率SiC逆變器的控制程序執(zhí)行時間優(yōu)化[J]. 何國林,國敬,范濤,溫旭輝. 微電機(jī). 2017(03)
[8]SiC MOSFET靜態(tài)性能及參數(shù)溫度依賴性的實(shí)驗(yàn)分析及與Si IGBT的對比[J]. 馬青,冉立,胡博容,曾正,劉清陽. 電源學(xué)報. 2016(06)
[9]SiC MOSFET特性及其應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù)分析[J]. 張斌鋒,許津銘,錢強(qiáng),張曌,謝少軍. 電源學(xué)報. 2016(04)
[10]永磁同步電機(jī)伺服系統(tǒng)電流環(huán)控制技術(shù)綜述[J]. 黃玉平,鄭再平,仲悅,吳紅星. 微電機(jī). 2015(04)
博士論文
[1]新型碳化硅功率二極管的研究[D]. 任娜.浙江大學(xué) 2015
本文編號:3221336
【文章來源】:冶金自動化研究設(shè)計院北京市
【文章頁數(shù)】:91 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
SiCMOSFET的器件符號和元胞結(jié)構(gòu)示意圖
(a)C2M0080120D 輸出特性 圖 2-2 SiC MOSFET 與 從圖 2-2(b)可見 SiIGBT 的輸出特性在SiC MOSFET 由于其較小的跨導(dǎo)值,在柵極較大的變化,柵極電壓對漏極電流上升速度夠有效導(dǎo)通,SiC MOSFET 驅(qū)動電壓要比常b) 轉(zhuǎn)移特性圖 2-3 所示為 SiC MOSFET 和 Si IGBT移特性上,SiCMOSFET 的與 IGBT 有很大區(qū)8.5V 時,集電極電流具有負(fù)溫度系數(shù),而 S才可能表現(xiàn)負(fù)溫度系數(shù),其驅(qū)動電壓在正溫因電流的沖擊發(fā)熱增多,其溫度短暫上升,從
VGS(V)Gate-Emi 的轉(zhuǎn)移特性(SiC MOSFET) (b)SKW15N120 的 2-3 SiC MOSFET 和 IGBT 的轉(zhuǎn)移特性曲線圖功率元器件導(dǎo)通電阻的主要來源,導(dǎo)通電阻的比 Si 材料,SiC 的高絕緣擊穿場強(qiáng)使其能夠件雜質(zhì)濃度可以更高、漂移層可以更薄,從而理論上,在相同的耐壓條件,SiC 的漂移層的一,目前,SiC 器件已能夠以很低的導(dǎo)通電阻iC 和 Si 材料器件在不同耐壓等級下通態(tài)電阻等級下,SiC 材料器件的導(dǎo)通電阻遠(yuǎn)小于 S 器件仍保持較低的導(dǎo)通電阻。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]碳化硅MOSFET反向?qū)ㄌ匦越Q芯縖J]. 周志達(dá),葛瓊璇,趙魯,楊博. 電工電能新技術(shù). 2018(10)
[2]第三代半導(dǎo)體帶來的機(jī)遇與挑戰(zhàn)[J]. 林佳,黃浩生. 集成電路應(yīng)用. 2017(12)
[3]SiC MOSFET短路保護(hù)電路研究[J]. 武晶晶,郭希錚,李志堅,鄭建朋. 電力電子技術(shù). 2017(09)
[4]SiC MOSFET驅(qū)動電路設(shè)計與實(shí)驗(yàn)分析[J]. 鄒世凱,胡冬青,黃仁發(fā),崔志行,梁永生. 電氣傳動. 2017(09)
[5]SiC MOSFET晶體管會是下一個器件領(lǐng)跑者[J]. 半導(dǎo)體信息. 2017(04)
[6]槽型SiC MPS二極管的優(yōu)化設(shè)計[J]. 何清源,廖天,張凱,羅小蓉,方健,王嘉銘,楊霏. 智能電網(wǎng). 2017(08)
[7]高開關(guān)頻率SiC逆變器的控制程序執(zhí)行時間優(yōu)化[J]. 何國林,國敬,范濤,溫旭輝. 微電機(jī). 2017(03)
[8]SiC MOSFET靜態(tài)性能及參數(shù)溫度依賴性的實(shí)驗(yàn)分析及與Si IGBT的對比[J]. 馬青,冉立,胡博容,曾正,劉清陽. 電源學(xué)報. 2016(06)
[9]SiC MOSFET特性及其應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù)分析[J]. 張斌鋒,許津銘,錢強(qiáng),張曌,謝少軍. 電源學(xué)報. 2016(04)
[10]永磁同步電機(jī)伺服系統(tǒng)電流環(huán)控制技術(shù)綜述[J]. 黃玉平,鄭再平,仲悅,吳紅星. 微電機(jī). 2015(04)
博士論文
[1]新型碳化硅功率二極管的研究[D]. 任娜.浙江大學(xué) 2015
本文編號:3221336
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