有機無機雜化鈣鈦礦材料由于其具有優(yōu)異的發(fā)光性能、良好的電荷輸運性、靈活的帶隙可調(diào)諧性以及極高的顏色純度,被視為下一代顯示照明光源的極佳選擇。由于獨特的量子限域效應(yīng),低維的有機無機雜化鈣鈦礦擁有比三維材料更佳的光致發(fā)光性能,基于低維鈣鈦礦的發(fā)光二級管（PeLED）器件有望實現(xiàn)更高外量子效率（EQE）。本論文以簡單的溶液法為基礎(chǔ),通過在鈣鈦礦前驅(qū)液中加入不同量的PEABr,制備了一系列的低維FAPbBr₃鈣鈦礦薄膜。其中在PEABr添加量為0.4時制備了EQE為14.27%的PeLED器件。同時,為了進一步提升低維FAPbBr₃ LED器件的EQE,同時采用了Cs摻雜和離子液體晶粒表面鈍化的策略。獲得了最大EQE20.2%,最大亮度達到26220 cd·m^-2的低維FAPbBr₃ LED,這是目前已知EQE最高的低維綠光PeLED器件。此外,與常見的有機無機雜化鈣鈦礦相比,CsPbBr₃鈣鈦礦熱分解溫度更高,在制備長運行壽命PeLED方面顯示出獨特的潛力。然而,CsPbBr

【文章來源】：青島科技大學(xué)山東省

【文章頁數(shù)】：86 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
符號說明
第一章 緒論
    1.1 引言
    1.2 鈣鈦礦材料的化學(xué)組成及晶體結(jié)構(gòu)
    1.3 鈣鈦礦材料的光電特性
        1.3.1 鈣鈦礦材料的光致發(fā)光效應(yīng)
        1.3.2 鈣鈦礦材料的光吸收能力
        1.3.3 鈣鈦礦材料的電學(xué)性能
    1.4 鈣鈦礦材料的結(jié)構(gòu)多樣性
        1.4.1 三維鈣鈦礦材料
        1.4.2 低維鈣鈦礦材料
    1.5 鈣鈦礦材料在光電領(lǐng)域的應(yīng)用
        1.5.1 鈣鈦礦太陽能電池
        1.5.2 鈣鈦礦發(fā)光二極管
        1.5.3 鈣鈦礦光探測器
    1.6 鈣鈦礦LED器件
        1.6.1 PeLED的器件結(jié)構(gòu)
        1.6.2 PeLED的發(fā)光機理
        1.6.3 PeLED的性能參數(shù)
        1.6.4 PeLED的發(fā)展歷程
    1.7 課題研究的目的、意義和主要內(nèi)容
        1.7.1 本課題研究目的與意義
        1.7.2 本課題研究內(nèi)容
第二章 基于低維有機無機雜化鈣鈦礦的PeLED器件研究
    2.1 引言
    2.2 實驗部分
        2.2.1 實驗原料
        2.2.2 實驗儀器
        2.2.3 實驗步驟
    2.3 測試與表征
        2.3.1 紫外/可見(UV-vis)吸收光譜測試
        2.3.2 X-射線衍射(XRD)測試
        2.3.3 掃描電子顯微鏡(SEM)測試
        2.3.4 原子力顯微鏡(AFM)測試
        2.3.5 光致發(fā)光(PL)性能測試
        2.3.6 PeLED器件性能測試
    2.4 結(jié)果與討論
    2.5 本章小結(jié)
第三章 體相摻雜和晶粒表面鈍化提高低維PeLED的器件性能
    3.1 引言
    3.2 實驗部分
        3.2.1 實驗原料
        3.2.2 實驗儀器
        3.2.3 實驗步驟
    3.3 測試與表征
        3.3.1 紫外/可見(UV-vis)吸收光譜測試
        3.3.2 X-射線衍射(XRD)測試
        3.3.3 掃描電子顯微鏡(SEM)測試
        3.3.4 原子力顯微鏡(AFM)測試
        3.3.5 光致發(fā)光(PL)性能測試
        3.3.6 PeLED器件性能測試
    3.4 結(jié)果與討論
    3.5 本章小結(jié)
第四章 軟路易斯堿和鈉離子協(xié)同鈍化的Cs Pb Br3基Pe LED
    4.1 引言
    4.2 實驗部分
        4.2.1 實驗原料
        4.2.2 實驗儀器
        4.2.3 實驗步驟
    4.3 測試與表征
        4.3.1 紫外/可見(UV-vis)吸收光譜測試
        4.3.2 X-射線衍射(XRD)測試
        4.3.3 掃描電子顯微鏡(SEM)測試
        4.3.4 原子力顯微鏡(AFM)測試
        4.3.5 光致發(fā)光(PL)性能測試
        4.3.6 X射線光電子能譜(XPS)測試
        4.3.7 PeLED器件性能測試
    4.4 結(jié)果與討論
    4.5 本章小結(jié)
結(jié)論與展望
參考文獻
致謝
攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文



本文編號：3187142