提出了一種用于時(shí)間交織模數(shù)轉(zhuǎn)換器（TIADC）通道間采樣時(shí)間誤差的校正算法。該算法是基于參考通道的后臺(tái)校正算法。通過比較參考通道與帶校準(zhǔn)通道的輸出差異提取出采樣誤差信息,并通過負(fù)反饋邏輯進(jìn)行校準(zhǔn)。該算法的校正模塊硬件消耗低,可支持包括完全隨機(jī)輸入信號(hào)的多種類型輸入信號(hào)。將該校正算法應(yīng)用于一個(gè)4 GHz、8 bit四通道TIADC,后仿真結(jié)果表明,當(dāng)輸入信號(hào)接近奈奎斯特頻率、存在其他非理想因素的條件下,該算法能將通道間采樣時(shí)間誤差相關(guān)的頻譜尖峰抑制到35 dB。 

【文章來源】：微電子學(xué). 2020,50(05)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

M個(gè)單通道ADC構(gòu)成的時(shí)間交織ADC示意圖

不同N值對(duì)應(yīng)的Dsum, i分布以及相關(guān)的Ddiff, ave

TIADC的4個(gè)單通道和參考通道(M=4,l=5)的時(shí)序圖如圖4所示。CLKref的第一個(gè)采樣時(shí)刻與CLK0相同,第二個(gè)采樣時(shí)刻與CLK1相同。以此類推。第4個(gè)采樣周期與CLK3相同。CLKref第5個(gè)周期的采樣邊沿再一次與CLK0對(duì)齊。CLKref每四個(gè)采樣周期構(gòu)成了1次循環(huán)。在1次循環(huán)中,CLKref依次與每個(gè)通道的理想采樣時(shí)刻對(duì)齊�？筛鶕�(jù)圖3(a)所示的檢測方法,采用同一個(gè)參考通道,分別檢測每一個(gè)單通道的采樣時(shí)間偏差。2.2 采樣時(shí)間偏差校正

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]關(guān)于毫米波與太赫茲通信的思考[J]. 洪偉.  中興通訊技術(shù). 2018(03)
[2]太赫茲高速通信系統(tǒng)前端關(guān)鍵技術(shù)[J]. 樊勇,陳哲,張波.  中興通訊技術(shù). 2018(03)



本文編號(hào)：3115673