潛指紋是刑事偵查中重要的證據(jù)。為了研究基于紫外偏振成像技術(shù)的潛指紋無損檢測,利用背照式sCMOS探測器,提出了紫外偏振成像方案。分析了紫外偏振成像的基本工作原理,設(shè)計(jì)了由雙膠合透鏡光學(xué)系統(tǒng)、異步旋轉(zhuǎn)機(jī)械結(jié)構(gòu)和自動(dòng)調(diào)諧電子學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的分時(shí)型紫外偏振成像探測系統(tǒng),并通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該系統(tǒng)的功能和性能。結(jié)果表明,利用該系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)潛指紋等弱特征目標(biāo)的無損檢測。相較于傳統(tǒng)強(qiáng)度信息檢測,該方法獲取的偏振信息提高了目標(biāo)與背景的對(duì)比度,凸顯了目標(biāo)的細(xì)節(jié)特征,為偏振成像探測應(yīng)用于潛指紋無損檢測提供了實(shí)驗(yàn)依據(jù)。 

【文章來源】：激光與光電子學(xué)進(jìn)展. 2020,57(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：9 頁

【部分圖文】：

紫外偏振成像探測系統(tǒng)

偏振成像探測主要是通過對(duì)偏振調(diào)制器件的設(shè)置來測量目標(biāo)的偏振信息，配合相應(yīng)的解析算法最終可獲取目標(biāo)的全部或部分偏振信息，如偏振度、偏振角。紫外偏振成像探測原理如圖1所示。I、Q、U、V是Stokes向量的四個(gè)參數(shù)。入射光偏振態(tài)的Stokes參量為Si=[Ii,Qi,Ui,Vi]T，出射光偏振態(tài)的Stokes參量為So=[Io,Qo,Uo,Vo]T，則有[9]

根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求，應(yīng)計(jì)算出系統(tǒng)光學(xué)參量，比如，系統(tǒng)焦距、F數(shù)、視場角、系統(tǒng)放大率和探測波段等。根據(jù)光學(xué)成像分析，系統(tǒng)焦距f、像面大小s（垂直或水平）、系統(tǒng)作用距離WD和場景大小Fv的關(guān)系式[13]為視場角的大小決定了光學(xué)系統(tǒng)的視野范圍。視場角越小，系統(tǒng)光學(xué)倍率就越大。視場角W的計(jì)算式為

【參考文獻(xiàn)】：
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博士論文
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碩士論文
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本文編號(hào)：3110767