隨著數(shù)字微流控芯片系統(tǒng)復雜度和電極數(shù)目的增加,共用引腳的電極控制方式應(yīng)運而生。但該控制方式會造成芯片物理結(jié)構(gòu)繁雜,使得芯片故障測試工作變得更加困難。提出一種基于改進的化學反應(yīng)優(yōu)化算法（CRO）的并行測試策略,設(shè)計引腳受限芯片測試模型,針對引腳互連的特點設(shè)計約束條件與禁忌判斷規(guī)則,通過遍歷測試模型中頂點和邊的方式檢測災(zāi)難性故障。該方案構(gòu)建測試路徑序列的初始分子結(jié)構(gòu),在編碼中添加虛擬節(jié)點,有針對性地設(shè)計分子的撞墻、分解、合成和交換反應(yīng),采用動態(tài)參數(shù)機制控制四種反應(yīng)的頻率,并在CRO算法中引入Metropolis準則以改善求解效率,在約束條件下規(guī)劃測試路徑。實驗結(jié)果表明,該方案能實現(xiàn)對引腳受限芯片的故障測試,無論離線或在線測試,與標準CRO算法相比,測試路徑優(yōu)化了2%以上,而與單液滴測試相比,優(yōu)化了27%以上,表明所提方法能夠有效縮短測試路徑,提高測試工作的效率。 

【文章來源】：儀器儀表學報. 2020,41(08)北大核心

【文章頁數(shù)】：9 頁

【部分圖文】：

直接尋址與引腳受限芯片對比

6×6的芯片電極轉(zhuǎn)化

圖3 兩液滴并行測試

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3082175