隨著5G時(shí)代的來臨,對(duì)時(shí)鐘及其頻率源的穩(wěn)定度要求變得更加嚴(yán)格。只有高準(zhǔn)確度和高穩(wěn)定度的頻率源才能保證時(shí)間同步和傳輸信號(hào)的穩(wěn)定性。高穩(wěn)定度晶體振蕩器以其相對(duì)便宜的價(jià)格和批量化的生產(chǎn)受到廣大企業(yè)的青睞,但是其長(zhǎng)期穩(wěn)定度與時(shí)代發(fā)展的要求稍有差距。穩(wěn)定度指標(biāo)較好的原子鐘價(jià)格昂貴,研制出符合5G時(shí)代標(biāo)準(zhǔn)的超高穩(wěn)定度晶體振蕩器具有時(shí)代性的意義。在高穩(wěn)定度晶體振蕩器的研究基礎(chǔ)上,尋求有效的手段抑制晶體器件的老化或者補(bǔ)償老化因素造成的頻率偏移可以大幅度的提升晶體振蕩器的長(zhǎng)期穩(wěn)定度。本文根據(jù)先前對(duì)老化補(bǔ)償經(jīng)驗(yàn)的積累,通過對(duì)晶體器件等效諧振參數(shù)的研究,諧振回路諧振頻率的改變必然伴隨著回路中元器件參數(shù)的變化,元器件參數(shù)的變化即為晶體器件的老化情況。由于目前技術(shù)手段難以對(duì)晶體器件的諧振參數(shù)進(jìn)行精確的測(cè)量,轉(zhuǎn)而研究晶體的移相作用,通過晶體器件對(duì)高頻信號(hào)相移量的變化來完成對(duì)老化情況的判斷,不失為一種可行的方法。通過對(duì)晶體振蕩器內(nèi)部諧振器件兩端信號(hào)的分析,采用數(shù)字化的手段來測(cè)量諧振回路中晶體諧振器兩端的相移量,兩端的同頻信號(hào)使ADC的采樣值具有相關(guān)性,在原先使用ADC的時(shí)鐘信號(hào)作為參考的基礎(chǔ)上,分析諧振器兩端兩個(gè)采... 

【文章來源】：西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：85 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

石英晶體外形圖

就形成了晶體器件。當(dāng)然實(shí)際工廠中的加工步驟不會(huì)這么簡(jiǎn)單，如圖 2.2 表示工廠的晶體諧振器的制作過程。圖 2.3 展示一些加工好的晶體。圖2.2 晶體諧振器的生產(chǎn)過程

第二章 晶體振蕩器簡(jiǎn)介7圖2.3 封裝好的晶體圖石英晶片的根據(jù)切割時(shí)與對(duì)坐標(biāo)軸的角度不同，有多種切割方式，這些不同方位的切割稱為石英晶片的切型[8]。目前已經(jīng)出現(xiàn)很多種不同的切割方式，并在各個(gè)方面廣泛的應(yīng)用，如 AT 切型、BT 切型、CT 切型廣泛應(yīng)用于一般的晶體振蕩器和壓控晶體振蕩器，SC 切型的切割方式麻煩，但是特性也最好，被廣泛應(yīng)用于高穩(wěn)定度的恒溫晶體振蕩器等。AT 切型出現(xiàn)時(shí)間是是 1920s，由一些來自美國、日本和德國的專家研制。AT 切型的基頻晶體沿 X 軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)34 3528'。 。進(jìn)行切割[9]，AT 切泛音晶體切割方式為沿 X 軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)3521'。進(jìn)行切割。良好的溫度特性是 AT 切石英晶體使用廣泛的重要原因之一


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