帶結(jié)構(gòu)工程隧穿異質(zhì)結(jié)用于高性能可見和近紅外光探測(英文)
發(fā)布時間:2021-03-03 13:49
隧穿異質(zhì)結(jié)因其先進的光學靈敏度、可定制的探測范圍以及均衡的光電性能而正逐漸成為一種光電探測的通用體系結(jié)構(gòu).但是,現(xiàn)有的隧穿異質(zhì)結(jié)主要在可見光波段工作,很少能實現(xiàn)近紅外光探測.本文利用具有互補帶隙的WSe2和Bi2Se3(1.46和0.3 eV)設(shè)計了一種能同時實現(xiàn)高性能可見和近紅外光探測的新型裂隙隧穿異質(zhì)結(jié).由于能帶結(jié)構(gòu)的重新排列,WSe2/Bi2Se3異質(zhì)結(jié)構(gòu)展現(xiàn)出了低于pA量級的暗電流和以隧穿為主的光電流.我們設(shè)計的隧穿異質(zhì)結(jié)對532 nm可見光和1456 nm近紅外光的比探測度高達7.9×1012和2.2×1010Jones.本研究為構(gòu)建用于高性能寬帶光探測的范德瓦爾斯隧穿異質(zhì)結(jié)構(gòu)提供了一種新的帶結(jié)構(gòu)工程途徑.
【文章來源】:Science China Materials. 2020,63(08)
【文章頁數(shù)】:16 頁
本文編號:3061374
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