針對利用傳統(tǒng)灰色模型進行多芯片組件壽命預測時存在的精度不足,以及預測精度隨時間跨度增加而顯著降低的問題,提出馬爾科夫-尾段雙重殘差修正的多芯片組件壽命灰色預測方法。將在灰色GM（1,1）模型預測值基礎上經(jīng)馬爾科夫法優(yōu)化后的殘差作為尾段灰色殘差模型的輸入值,實現(xiàn)雙重殘差修正。以對熱循環(huán)加速試驗條件下得到少量試驗數(shù)據(jù)的影響多芯片組件壽命的電阻值進行壽命預測為例,試驗結(jié)果表明,相較于傳統(tǒng)灰色模型和神經(jīng)網(wǎng)絡預測方法,所提出方法在小樣本條件下平均殘差分別減小了80.469%和68.53%,預測精度得以提高,結(jié)果更加可靠,能夠更準確地預測多芯片組件的壽命。 

【文章來源】：電子測量與儀器學報. 2020,34(05)北大核心

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

預測殘差修正流程

表5 經(jīng)殘差修正后的預測結(jié)果對比表Table 5 Results of residual modified 循環(huán)次數(shù) 樣本均值 灰色預測值 僅經(jīng)馬爾科夫修正后預測值 經(jīng)MLP神經(jīng)網(wǎng)絡預測值 經(jīng)雙重修正后預測值 1 800 11.272 7 11.197 1 11.242 26 11.210 7 11.246 094 2 000 11.400 0 11.353 8 11.383 32 11.371 3 11.390 314 2 200 11.540 0 11.517 2 11.533 45 11.533 9 11.546 208 2 400 11.727 5 11.673 9 11.694 72 11.698 5 11.717 995經(jīng)對比分析,僅用灰色預測法雖能夠大致預測出電阻值的變化情況,但精度不高,平均殘差值達0.050 675;用灰色-馬爾科夫法預測,平均殘差值降低至0.021 61,預測精度得以提高 57.35%;經(jīng)馬爾科夫-尾段雙重殘差修正雙重殘差修正后,平均殘差降低至0.009 897,相對于灰色-馬爾科夫法的精度得以提高54.20%,相對于不加以修正的精度得以提高 80.469%。且相對于神經(jīng)網(wǎng)絡預測的精度得以提高68.53%,精度提高效果顯著。


本文編號：3005975