集成電路的發(fā)展趨向于高密度、高集成度、小體積、高性能,因此經(jīng)典的傳統(tǒng)測(cè)試方法越來(lái)越不能適應(yīng)當(dāng)下的測(cè)試需求,對(duì)于數(shù)字電路和數(shù)�；旌想娐范际侨绱�。邊界掃描技術(shù)的出現(xiàn)是為解決大規(guī)模集成電路在使用經(jīng)典測(cè)試方法時(shí)的局限性問(wèn)題。從邊界掃描技術(shù)的誕生到現(xiàn)在,經(jīng)歷了IEEE1149.1、IEEE1149.4、IEEE1149.5、IEEE1149.6和IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的制定和完善,已經(jīng)逐步形成了一套通用的測(cè)試體系。在國(guó)內(nèi)外,已經(jīng)有眾多單位投入到了邊界掃描技術(shù)的研究中去,然而目前僅數(shù)字邊界掃描技術(shù)的應(yīng)用最為成熟。對(duì)基于IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的混合電路邊界掃描技術(shù),雖有完善的理論體系,但軟硬件支撐不足,無(wú)法勝任數(shù)�；旌想娐返臏y(cè)試。本文根據(jù)這些缺點(diǎn)和不足,針對(duì)具有代表性的數(shù)模混合芯片AD/DA,基于數(shù)字邊界掃描測(cè)試的特點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),完成對(duì)AD/DA的板級(jí)功能測(cè)試。主要研究?jī)?nèi)容包括:1、適合AD/DA測(cè)試的掃描鏈路設(shè)計(jì)。本文研究的測(cè)試系統(tǒng)方案是基于數(shù)字邊界掃描測(cè)試,在對(duì)數(shù)字鏈路特點(diǎn)的研究中發(fā)現(xiàn),ADC的并行輸出和DAC的并行輸入與支持IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描器件并行I/O口連接時(shí),可... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：81 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

BGA球柵陣列封裝

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文26而要區(qū)別開(kāi)兩種工作狀態(tài)，為AD/DA設(shè)置單獨(dú)的電源電路。圖3-13電源配置示意圖如圖3-13所示為L(zhǎng)TC2253和LTC1278獨(dú)立電源配置電路示意圖，它們與電路板正常邏輯的電源區(qū)別開(kāi)，防止在測(cè)試時(shí)其他器件對(duì)被測(cè)器件產(chǎn)生影響。（2）邊界掃描器件的工作狀態(tài)本論文中AD測(cè)試模塊和DA測(cè)試模塊所用的BS器件為SN74BCT8244A緩沖器芯片（以下簡(jiǎn)稱(chēng)8244芯片），結(jié)構(gòu)示意圖（DW封裝）如圖3-14所示。假設(shè)它在電路板中不承擔(dān)緩沖器的作用，僅作為邊界掃描測(cè)試用途的芯片，則需要保證在電路板正常工作時(shí)，8244芯片不接入到功能電路中，而在進(jìn)行邊界掃描測(cè)試時(shí)，8244芯片接入到掃描鏈路中。圖3-15給出了一種對(duì)8244芯片Vcc端進(jìn)行輸入控制的方法，從而通過(guò)電源端確保8244芯片的工作狀態(tài)。圖3-14SN74BCT8244A緩沖器結(jié)構(gòu)示意圖VIN1EN2MODE3SW6FB5GND4*3TPS62233+5V2.2uFC55GND4.7uFC56GND+3V12P13Header21.0uHL3L111VIN12VIN13EN14VSEL15VAUX3PS/SYNC1L29VOUT8VOUT7FB5FB26PG2PGND10GND4*2TPS63070RNM10kR21523kR22102kR23100k22uFR24C52100nFC5747uFC5410uFC53GND12P1412V接線(xiàn)端子GNDGNDGND1.5uHL2+5V

第四章數(shù)�；旌闲酒珹D/DA板級(jí)測(cè)試算法研究374.2.1.2基于走步算法的測(cè)試算法基于走步算法的ADC測(cè)試算法，在保證了測(cè)試向量集完備性的同時(shí)，大大提高了緊湊性，即使待測(cè)ADC的精度很高，也不會(huì)產(chǎn)生數(shù)量龐大的測(cè)試向量。該算法的基本思路是，測(cè)試向量（測(cè)試電壓對(duì)應(yīng)的量化值）結(jié)合使用走步0和走步1算法，再加上全為“0”和全為“1”的STV。測(cè)試向量集中STV的總數(shù)為2N+2，PTV總數(shù)為N，其中N為ADC的位數(shù)。對(duì)于12位的ADC，如按照其精度進(jìn)行完整的測(cè)試，共需4096個(gè)測(cè)試向量，而使用基于走步算法的ADC測(cè)試算法只需26個(gè)STV，測(cè)試矩陣如圖4-13所示。圖4-13基于走步算法的測(cè)試矩陣從圖中可以看出，測(cè)試矩陣的上半部分使用了走步1算法，下半部分使用了走步0算法，“0”和“1”覆蓋到了ADC的每個(gè)位，這樣在保證了緊湊性的前提下，也保證了測(cè)試結(jié)果的可靠性。此測(cè)試向量集僅僅表示了ADC轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)具有代表性的量化值。測(cè)試時(shí)，上位機(jī)需要根據(jù)待測(cè)ADC的位數(shù)、滿(mǎn)量程電壓值，結(jié)合測(cè)試向量集生成對(duì)應(yīng)的測(cè)試電壓數(shù)據(jù)，如：-5.0000V，-4.9975V，-4.9950V，-4.9900V，-4.9800V，-4.9610V，-4.9220V，-4.8440V，-4.6875V，-4.3750V，-3.7500V，-2.500V，-0.0025V，0V，2.4975V，

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