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基于DFT的AlN MOCVD反應及表面摻雜和空位的計算研究

發(fā)布時間:2021-01-18 22:06
  氮化鋁(AlN)是一種有良好發(fā)展前景的半導體材料,它常用作光電材料、緩沖層等,特別適用于Si襯底上生長GaN。AlN一般是通過金屬有機化合物化學氣相沉積(MOCVD)方法來制備,生長過程實質(zhì)上是一個化學反應過程,主要包括氣相反應和表面反應。表面反應是整個氣相沉積過程的核心,本文致力于AlN微觀反應和表面狀況研究;诹孔踊瘜W密度泛函理論研究了AlN MOCVD反應及表面缺陷,應用Materials Studio中的CASTEP模塊,對氣相反應、表面吸附、以及摻雜、空位對表面的影響進行了計算分析。主要工作如下:(一)從氣相反應著手,首先論證了三甲基鋁(TMA)的穩(wěn)定構(gòu)型,然后重點研究最穩(wěn)定構(gòu)型二聚體d-TMA(C2v)與NH3的氣相反應,發(fā)現(xiàn)生成復合物Al(CH33:NH3(可簡寫為TMA:NH3)和單體m-TMA,給出了反應過程中主要變化。進一步研究了產(chǎn)物TMA:NH3的態(tài)密度、Mulliken電荷和鍵布居、帶隙等電子結(jié)構(gòu)和吸收系數(shù)... 

【文章來源】:江蘇大學江蘇省

【文章頁數(shù)】:112 頁

【學位級別】:博士

【部分圖文】:

基于DFT的AlN MOCVD反應及表面摻雜和空位的計算研究


AlN晶體結(jié)構(gòu)

主體結(jié)構(gòu),襯底,芯片,絕緣材料


圖 1.2 Si 襯底 LED 芯片主體結(jié)構(gòu)1.2 Main structure of LED chip on Si su高阻特性使其成為優(yōu)質(zhì)的絕緣材料

示意圖,氣相沉積,示意圖,沉積物


圖 1.3 氣相沉積示意圖Fig. 1.3 Diagram of vapor deposition體生長過程和生長模式以及最終形成的薄膜結(jié)構(gòu)及其性質(zhì),在很大沉積物之間的相互作用、沉積物與襯底之間的相互作用,而表面反

【參考文獻】:
期刊論文
[1]Electronic structures and magnetic properties of Zn-and Cd-doped AlN nanosheets:A first-principles study[J]. 韓瑞林,姜世民,閆羽.  Chinese Physics B. 2017(02)
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[3]硅襯底高光效GaN基藍色發(fā)光二極管[J]. 江風益,劉軍林,王立,熊傳兵,方文卿,莫春蘭,湯英文,王光緒,徐龍權(quán),丁杰,王小蘭,全知覺,張建立,張萌,潘拴,鄭暢達.  中國科學:物理學 力學 天文學. 2015(06)
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[6]C摻雜實現(xiàn)p型AlN的第一性原理計算[J]. 袁娣,羅華峰,黃多輝.  宜賓學院學報. 2010(12)
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[8]三甲基鋁雙聚體和單體的氣相離解-締合平衡模擬計算[J]. 吳淑英,楊立新,宋春霞,王文波.  物理化學學報. 2006(11)
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博士論文
[1]氮化鋁摻雜的第一性原理研究與體單晶的制備[D]. 閆征.深圳大學 2015
[2]AlN等半導體表面結(jié)構(gòu)與電子性質(zhì)的第一性原理研究[D]. 耶紅剛.西安交通大學 2011
[3]摻雜AlN的理論與實驗研究[D]. 張勇.華中科技大學 2008



本文編號:2985741

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