為了判斷高壓設(shè)備發(fā)生電暈放電的位置和大致的放電強(qiáng)度,利用紫外成像儀對設(shè)備進(jìn)行記錄并判斷高壓設(shè)備的絕緣缺陷。通過C-V（Chan-Vese）模型方法對紫外圖像光斑進(jìn)行圖像分割提取,且引入了光斑面積和光斑邊界周長兩個(gè)特征量來判斷設(shè)備放電狀態(tài)。結(jié)果表明,C-V模型提取光斑自動化程度高,耗時(shí)短,抗噪能力更強(qiáng),具有很好的全局優(yōu)化,能夠在一定程度上減少漏檢的放電區(qū)域,且引入的特征量能夠較好地表征放電狀態(tài)。 

【文章來源】：科學(xué)技術(shù)與工程. 2020,20(14)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

圖像處理過程

計(jì)算機(jī)配置為主頻1.7 G和4 G內(nèi)存,在matlab7.0軟件環(huán)境下,采用C-V模型分割原始紫外圖像,如圖2、圖3和圖4所示,表1給出了其迭代次數(shù)、分割耗時(shí),比較后易見,本文所提方法提取放電區(qū)域耗時(shí)短,效率高。圖4 C-V模型與數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)對比

圖3 C-V模型與二值化方法對比表1 C-V模型分割圖像迭代次數(shù)與時(shí)間Table 1 Iteration times and time of C-V model image segmentation 圖像 迭代次數(shù) 耗時(shí)/s 圖2(a) 100 0.586 0 圖3(a) 100 0.731 0 圖4(a) 100 0.670 0

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
[1]基于C-V模型的圖像分割方法研究[D]. 呂華川.東北大學(xué) 2014
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本文編號：2967366