非固體電解質(zhì)全鉭電容器陰極制造技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2021-01-03 16:41
隨著軍用電子整機(jī)設(shè)備的升級換代和高、精、尖武器裝備研發(fā)的需要,對軍用電子元器件的技術(shù)指標(biāo)、可靠性和貯存性提出了更高的要求。此時(shí),全鉭電容器就凸顯了其優(yōu)點(diǎn)。從產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、電性能可靠性、產(chǎn)品生產(chǎn)工藝、質(zhì)量控制等方面采用最理想的設(shè)計(jì),是鉭電解電容器中設(shè)計(jì)理念最完美的構(gòu)思。它不僅保持了非固體電解質(zhì)鉭電解電容器的優(yōu)點(diǎn),并且由于其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì)、外殼和絕緣子材料的改變,及激光焊接技術(shù)的采用,使得產(chǎn)品的密封性和可靠性得到了大幅的提升。更為重要的是,全鉭電容器具有較高的耐反向電壓和承受較大紋波電流等其它非固體電解質(zhì)鉭電容器不可取代的強(qiáng)大優(yōu)勢,被國外可靠性專家稱為“永不失效的產(chǎn)品”。因此,不斷提高其穩(wěn)定性和可靠性,對于非固體電解質(zhì)全鉭電容器的發(fā)展來說是至關(guān)重要的。本文在燒結(jié)理論、介質(zhì)氧化膜形成理論、陰極容量理論、電解質(zhì)的電導(dǎo)理論的指導(dǎo)下,著重對非固體電解質(zhì)全鉭電容器的陰極制造技術(shù)進(jìn)行研究,對影響介質(zhì)氧化膜質(zhì)量的相關(guān)工藝參數(shù)進(jìn)行了深入分析,在原有技術(shù)及工藝基礎(chǔ)上優(yōu)化其陰極生產(chǎn)工藝和工藝參數(shù),從陰極筒鉭粉的選擇及粘合劑的配置、陰極筒壓制密度、燒結(jié)溫度工藝、陰極筒形成液的選擇、形成電流的確定等方面進(jìn)行技術(shù)攻...
【文章來源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:72 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
全擔(dān)電容器外形結(jié)構(gòu)圖
上墊片在滾槽加工后對鉭芯子定位,并起到電容器的第一次密封,采用激光焊??接和等離子焊接技術(shù)完成全鉭電容器的最終密封,最后采用鍍錫鎳絲對焊做為引出??線。全鉭電容器外結(jié)構(gòu)圖見圖2.1,內(nèi)g結(jié)構(gòu)圖見圖2.2。?_??—??圖2.1全鉭電容器外形結(jié)構(gòu)圖??工駐■片II外殼?電解質(zhì)擔(dān)陰極筒?燒結(jié)卩日極塊??^?_\?\?rv ̄^??\?一??\聚四氟乙烯塞柱??圖2.2全鉭電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖??從圖2.2可看出全鉭電容器大致是由鉭外殼、陰極筒、陽極鉭芯子、固定墊圈、??聚四氟乙烯墊片、聚四氟乙烯塞柱、全鉭絕緣子等組成的。用電容器級鉭粉壓制電容??器的陽極鉭芯,通過鉭絲引出作為電容器的正極;用高比容鉭粉在鉭外殼內(nèi)壓制空心??圓柱狀的陰極筒,鉭外殼和陰極筒經(jīng)燒結(jié)后形成一個(gè)緊密整體,并用特殊工藝在陰極??筒內(nèi)表面形成一定厚度的Ta205介質(zhì)氧化膜,作為電容器的陰極;將陽極鉭芯裝入全??鉭外殼內(nèi)并采用壓緊滾槽的方法將電容器的縱向固定,最后用全鉭絕緣子進(jìn)行密封。??6??
第二章全鉭電容器的結(jié)構(gòu)、特點(diǎn)及工藝流程??)電容量大,低漏電、穩(wěn)定性更好,損耗角正切值。??)能夠承受3V的反向電壓;??能耐大紋波電流(415mA?2360?mA);??能夠承受嚴(yán)酷的機(jī)械應(yīng)力:高頻加速度達(dá)800m/s2,沖擊(規(guī)定脈沖)達(dá)500g,??動:加速度譜密度為150?(m/s2)?2/Hz,總均方根加速度537.9?m/s2;銀外殼封裝??鉭高頻加速為20g,沖擊(規(guī)定脈沖)為100g,不考核隨機(jī)振動。??密封性能方面,銀外殼封裝非固體鉭采用錫焊方式進(jìn)行密封,而全鉭電容器??光焊接方式進(jìn)行封焊,所以密封性更好。??長壽命后電性能更為穩(wěn)定。??.?2.?3特性曲線??.2.3.1電容量與溫度的關(guān)系??電容器電容量隨溫度變化曲線見圖2.3。??AC(%)??
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]氧化膜強(qiáng)化技術(shù)在鉭電容器生產(chǎn)中的應(yīng)用[J]. 焦紅忠,董寧利,孫紅杰. 電子工藝技術(shù). 2012(02)
[2]電容器損耗測量誤差及其分析[J]. 劉爾寧. 電力電容器與無功補(bǔ)償. 2010(06)
[3]固鉭電容在甚高溫條件下參數(shù)變化機(jī)理[J]. 李波,張亞,徐建軍,李世中. 北京理工大學(xué)學(xué)報(bào). 2009(10)
[4]Ta-Ta2O5-電解液體系界面導(dǎo)電特性的分析與研究[J]. 陸勝,蔣春強(qiáng),陳紅征. 壓電與聲光. 2008(06)
[5]全鉭全密封液體鉭電解電容器[J]. 王秀宇,劉仲娥,張之圣,白天,黃翔東. 電子元件與材料. 2008(01)
[6]影響電解電容器漏電流的因素[J]. 陳燕,董世娜,趙宏杰. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2007(06)
[7]Ta2O5介質(zhì)膜性能對液體鉭電容器性能的影響[J]. 陸勝,劉仲娥,梁正書,劉凌,陰學(xué)清. 壓電與聲光. 2006(04)
[8]氧含量對鉭電解電容器陽極氧化膜形成及漏電流的影響[J]. 伍尊中,姚衛(wèi)東,袁坤陽. 稀有金屬與硬質(zhì)合金. 2006(02)
[9]液體鉭電解電容器電參數(shù)的影響因素[J]. 張艷芬,張麗紅. 電機(jī)電器技術(shù). 2005(03)
[10]不同比容團(tuán)化鉭粉顆粒結(jié)構(gòu)比較[J]. 王東新,王學(xué)澤,鐘景明. 寧夏工程技術(shù). 2005(01)
本文編號:2955143
【文章來源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:72 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
全擔(dān)電容器外形結(jié)構(gòu)圖
上墊片在滾槽加工后對鉭芯子定位,并起到電容器的第一次密封,采用激光焊??接和等離子焊接技術(shù)完成全鉭電容器的最終密封,最后采用鍍錫鎳絲對焊做為引出??線。全鉭電容器外結(jié)構(gòu)圖見圖2.1,內(nèi)g結(jié)構(gòu)圖見圖2.2。?_??—??圖2.1全鉭電容器外形結(jié)構(gòu)圖??工駐■片II外殼?電解質(zhì)擔(dān)陰極筒?燒結(jié)卩日極塊??^?_\?\?rv ̄^??\?一??\聚四氟乙烯塞柱??圖2.2全鉭電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖??從圖2.2可看出全鉭電容器大致是由鉭外殼、陰極筒、陽極鉭芯子、固定墊圈、??聚四氟乙烯墊片、聚四氟乙烯塞柱、全鉭絕緣子等組成的。用電容器級鉭粉壓制電容??器的陽極鉭芯,通過鉭絲引出作為電容器的正極;用高比容鉭粉在鉭外殼內(nèi)壓制空心??圓柱狀的陰極筒,鉭外殼和陰極筒經(jīng)燒結(jié)后形成一個(gè)緊密整體,并用特殊工藝在陰極??筒內(nèi)表面形成一定厚度的Ta205介質(zhì)氧化膜,作為電容器的陰極;將陽極鉭芯裝入全??鉭外殼內(nèi)并采用壓緊滾槽的方法將電容器的縱向固定,最后用全鉭絕緣子進(jìn)行密封。??6??
第二章全鉭電容器的結(jié)構(gòu)、特點(diǎn)及工藝流程??)電容量大,低漏電、穩(wěn)定性更好,損耗角正切值。??)能夠承受3V的反向電壓;??能耐大紋波電流(415mA?2360?mA);??能夠承受嚴(yán)酷的機(jī)械應(yīng)力:高頻加速度達(dá)800m/s2,沖擊(規(guī)定脈沖)達(dá)500g,??動:加速度譜密度為150?(m/s2)?2/Hz,總均方根加速度537.9?m/s2;銀外殼封裝??鉭高頻加速為20g,沖擊(規(guī)定脈沖)為100g,不考核隨機(jī)振動。??密封性能方面,銀外殼封裝非固體鉭采用錫焊方式進(jìn)行密封,而全鉭電容器??光焊接方式進(jìn)行封焊,所以密封性更好。??長壽命后電性能更為穩(wěn)定。??.?2.?3特性曲線??.2.3.1電容量與溫度的關(guān)系??電容器電容量隨溫度變化曲線見圖2.3。??AC(%)??
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]氧化膜強(qiáng)化技術(shù)在鉭電容器生產(chǎn)中的應(yīng)用[J]. 焦紅忠,董寧利,孫紅杰. 電子工藝技術(shù). 2012(02)
[2]電容器損耗測量誤差及其分析[J]. 劉爾寧. 電力電容器與無功補(bǔ)償. 2010(06)
[3]固鉭電容在甚高溫條件下參數(shù)變化機(jī)理[J]. 李波,張亞,徐建軍,李世中. 北京理工大學(xué)學(xué)報(bào). 2009(10)
[4]Ta-Ta2O5-電解液體系界面導(dǎo)電特性的分析與研究[J]. 陸勝,蔣春強(qiáng),陳紅征. 壓電與聲光. 2008(06)
[5]全鉭全密封液體鉭電解電容器[J]. 王秀宇,劉仲娥,張之圣,白天,黃翔東. 電子元件與材料. 2008(01)
[6]影響電解電容器漏電流的因素[J]. 陳燕,董世娜,趙宏杰. 電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2007(06)
[7]Ta2O5介質(zhì)膜性能對液體鉭電容器性能的影響[J]. 陸勝,劉仲娥,梁正書,劉凌,陰學(xué)清. 壓電與聲光. 2006(04)
[8]氧含量對鉭電解電容器陽極氧化膜形成及漏電流的影響[J]. 伍尊中,姚衛(wèi)東,袁坤陽. 稀有金屬與硬質(zhì)合金. 2006(02)
[9]液體鉭電解電容器電參數(shù)的影響因素[J]. 張艷芬,張麗紅. 電機(jī)電器技術(shù). 2005(03)
[10]不同比容團(tuán)化鉭粉顆粒結(jié)構(gòu)比較[J]. 王東新,王學(xué)澤,鐘景明. 寧夏工程技術(shù). 2005(01)
本文編號:2955143
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