數字邏輯測試是電子產品測試中的重要組成部分,傳統(tǒng)的數字邏輯測試通常采用信號發(fā)生器,頻率計等標準儀表。隨著工廠產能的擴大,產品測試面臨新的挑戰(zhàn),即更高的測試平臺集成度,更小的占地面積。同時,傳統(tǒng)的測試接線方式也不能很好的支持越來越高的數字邏輯信號頻率。本文設計了一種基于FPGA和ARM的數字邏輯測試儀,適用于本工廠內的主要數字邏輯信號的發(fā)生與測試,集成于工廠內的標準測試系統(tǒng)中,可以有效縮短從被測板到測試儀表的信號傳輸路徑,減少信號的失真和干擾,并且能夠減少部分傳統(tǒng)儀表,幫助測試系統(tǒng)小型化發(fā)展。本文所做的主要工作有:1.本文首先介紹了數字邏輯測試儀開發(fā)的背景意義,國內外的嵌入式數字邏輯測試儀的研究動態(tài),并簡單介紹了數字邏輯測試儀開發(fā)完成后對工廠的實際意義。2.基于工廠內原材料現狀和設計需求選擇了核心芯片S3C44B0X和EP2C8Q208C8N,并設計了數字邏輯測試儀的硬件部分,包括ARM系統(tǒng)和FPGA電路。3.設計了 ARM系統(tǒng)的軟件和FPGA程序,并對FPGA程序進行了信號仿真。4.結合工廠內的測試平臺,編制了包含數字邏輯測試儀的上位機軟件,在工廠實際測試系統(tǒng)中進行了集成調試,并根據調... 

【文章來源】：東南大學江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數】：68 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖２－２?ＡＲＭ電路設計（第一部分）??８??

ARM電路設計佛二部分)

可以滿足Ｓ３Ｃ４４Ｂ０Ｘ的Ｉ／Ｏ?口、ＵＳＢ芯片、ＲＳ２３２轉換芯片、ＳＤＲＡＭ和Ｆｌａｓｈ的供電??需要。為了確保上電順序的要求能被滿足，在電路中設計了一塊復位電路作為上電順序??管理。這兩部分電路的設計如圖２－６所示。??ＡＲＭ?Ｆ３Ｖ３????ｙｉｊ??Ｌｊｊ?！５ｕＨＡ５Ｅ＾Ｔ［?Ｌ〇ｕｙ?ｖｒｃ?＿ｈＴＸ?Ｔ：?—￣￣??５Ｋ６Ｃｌ〇Ｃ？ｎ〇〇５９！０８ｌ?ＯＵＴ?ＣＣ?＝￣ＺＣ１－１－３?＋?Ｃｌ」」???９＼??？?？?丁?ｌ〇〇ｎ〇〇０００〇５料８４＾Ｊ＾Ｅ００１５７７７？??Ｊ?．＊＼５Ｅ？Ｃ＞４０ｔｔ６Ｈ５???ＳＹＮＣ?ＧＮＤ??＊?ａ?ｊ?４?＊?３３?＞ｕ?００００００５０２１２１??｛；Ｂ?ｒ：ｊ?ｊ?—?ＩＮＨ?ＶＲＥＦ?—?１１?ｉ〇〇ｎ００００００５８４８４７?１??Ａ???＾?ＣＯＭＰ?ＰＢ?…丨丨．．．?Ｉ??Ｃｌ?ｌ?７?３Ｋ３?００００?Ｋ）５８９３５８??Ａ５Ｅ００１８５７４５??丫?ＭＲ１?！＿２?ｒ￣Ｃｌ＿ｌ＿６?ｒ￣ＣＩ＿＿ｌ＿５??ＩＯＯｕ?００?）０００５？９８７０?丨?Ｃ＞ｇＸ５Ｅ００７６Ｓ�。常�?２２兩ｊ?＂６０００００５９６４５：?２２ｎ〇６〇０００５＜Ｍ７３９??ｆ｜Ｒｉ?Ｉ?ｌ??４Ｋ？?〇ｂ〇００〇５９〇Ｓ８５???丨?ｊ???Ｊ??ＡＲＭ?Ｆ２Ｖ５?Ｐ５?７??ｊＲｌ＿３＿５?［｝Ｒ１＿３＿３?Ｐ５??４Ｋ７００Ｍ００５９０８Ｂ５?ｌ?ＯＫ?５８４７７１?Ｔ??ｐｓ?ｊ?Ｔ?ｕｊ＿３??＂：?ｌ＾ＶＣＣ?ＰＦＯ－ｉ１〇Ｋ?５８４７７１??ＷＤ，ＲＥＳＥＴ?．?２?Ｕ＝３?

【參考文獻】：
期刊論文
[1]一種SPI串口模塊的FPGA實現[J]. 王維維,馮碩,昌暢.  電子世界. 2012(18)
[2]COM技術和動態(tài)鏈接庫技術的應用研究[J]. 梁忠杰,思敏,李婷.  微處理機. 2008(03)
[3]基于FPGA的邏輯信號源的設計與實現[J]. 陳暢,游宇.  電子測量技術. 2007(11)
[4]基于PDIUSBD12芯片的USB接口實現方案[J]. 任衛(wèi)華,葉明.  國外電子元器件. 2005(06)

碩士論文
[1]基于ARM+FPGA的雷達伺服控制器設計[D]. 馮智貴.南京理工大學 2008
[2]基于S3C44B0X的城市路燈控制器[D]. 劉雨樓.廣西大學 2007



本文編號：2932330