數(shù)字邏輯測(cè)試是電子產(chǎn)品測(cè)試中的重要組成部分,傳統(tǒng)的數(shù)字邏輯測(cè)試通常采用信號(hào)發(fā)生器,頻率計(jì)等標(biāo)準(zhǔn)儀表。隨著工廠產(chǎn)能的擴(kuò)大,產(chǎn)品測(cè)試面臨新的挑戰(zhàn),即更高的測(cè)試平臺(tái)集成度,更小的占地面積。同時(shí),傳統(tǒng)的測(cè)試接線方式也不能很好的支持越來越高的數(shù)字邏輯信號(hào)頻率。本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA和ARM的數(shù)字邏輯測(cè)試儀,適用于本工廠內(nèi)的主要數(shù)字邏輯信號(hào)的發(fā)生與測(cè)試,集成于工廠內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)中,可以有效縮短從被測(cè)板到測(cè)試儀表的信號(hào)傳輸路徑,減少信號(hào)的失真和干擾,并且能夠減少部分傳統(tǒng)儀表,幫助測(cè)試系統(tǒng)小型化發(fā)展。本文所做的主要工作有:1.本文首先介紹了數(shù)字邏輯測(cè)試儀開發(fā)的背景意義,國(guó)內(nèi)外的嵌入式數(shù)字邏輯測(cè)試儀的研究動(dòng)態(tài),并簡(jiǎn)單介紹了數(shù)字邏輯測(cè)試儀開發(fā)完成后對(duì)工廠的實(shí)際意義。2.基于工廠內(nèi)原材料現(xiàn)狀和設(shè)計(jì)需求選擇了核心芯片S3C44B0X和EP2C8Q208C8N,并設(shè)計(jì)了數(shù)字邏輯測(cè)試儀的硬件部分,包括ARM系統(tǒng)和FPGA電路。3.設(shè)計(jì)了 ARM系統(tǒng)的軟件和FPGA程序,并對(duì)FPGA程序進(jìn)行了信號(hào)仿真。4.結(jié)合工廠內(nèi)的測(cè)試平臺(tái),編制了包含數(shù)字邏輯測(cè)試儀的上位機(jī)軟件,在工廠實(shí)際測(cè)試系統(tǒng)中進(jìn)行了集成調(diào)試,并根據(jù)調(diào)... 

【文章來源】：東南大學(xué)江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：68 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖２－２?ＡＲＭ電路設(shè)計(jì)（第一部分）??８??

ARM電路設(shè)計(jì)佛二部分)

可以滿足Ｓ３Ｃ４４Ｂ０Ｘ的Ｉ／Ｏ?口、ＵＳＢ芯片、ＲＳ２３２轉(zhuǎn)換芯片、ＳＤＲＡＭ和Ｆｌａｓｈ的供電??需要。為了確保上電順序的要求能被滿足，在電路中設(shè)計(jì)了一塊復(fù)位電路作為上電順序??管理。這兩部分電路的設(shè)計(jì)如圖２－６所示。??ＡＲＭ?Ｆ３Ｖ３????ｙｉｊ??Ｌｊｊ?�。担酰龋粒担牛蓿裕�?Ｌ〇ｕｙ?ｖｒｃ?＿ｈＴＸ?Ｔ：?—￣￣??５Ｋ６Ｃｌ〇Ｃ？ｎ〇〇５９！０８ｌ?ＯＵＴ?ＣＣ?＝￣ＺＣ１－１－３?＋?Ｃｌ」」???９＼??？?？?丁?ｌ〇〇ｎ〇〇０００〇５料８４＾Ｊ＾Ｅ００１５７７７？??Ｊ?．＊＼５Ｅ？Ｃ＞４０ｔｔ６Ｈ５???ＳＹＮＣ?ＧＮＤ??＊?ａ?ｊ?４?＊?３３?＞ｕ?００００００５０２１２１??｛；Ｂ?ｒ：ｊ?ｊ?—?ＩＮＨ?ＶＲＥＦ?—?１１?ｉ〇〇ｎ００００００５８４８４７?１??Ａ???＾?ＣＯＭＰ?ＰＢ?…丨丨．．．?Ｉ??Ｃｌ?ｌ?７?３Ｋ３?００００?Ｋ）５８９３５８??Ａ５Ｅ００１８５７４５??丫?ＭＲ１?！＿２?ｒ￣Ｃｌ＿ｌ＿６?ｒ￣ＣＩ＿＿ｌ＿５??ＩＯＯｕ?００?）０００５？９８７０?丨?Ｃ＞ｇＸ５Ｅ００７６Ｓ�。常�?２２兩ｊ?＂６０００００５９６４５：?２２ｎ〇６〇０００５＜Ｍ７３９??ｆ｜Ｒｉ?Ｉ?ｌ??４Ｋ？?〇ｂ〇００〇５９〇Ｓ８５???丨?ｊ???Ｊ??ＡＲＭ?Ｆ２Ｖ５?Ｐ５?７??ｊＲｌ＿３＿５?［｝Ｒ１＿３＿３?Ｐ５??４Ｋ７００Ｍ００５９０８Ｂ５?ｌ?ＯＫ?５８４７７１?Ｔ??ｐｓ?ｊ?Ｔ?ｕｊ＿３??＂：?ｌ＾ＶＣＣ?ＰＦＯ－ｉ１〇Ｋ?５８４７７１??ＷＤ，ＲＥＳＥＴ?．?２?Ｕ＝３?

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種SPI串口模塊的FPGA實(shí)現(xiàn)[J]. 王維維,馮碩,昌暢.  電子世界. 2012(18)
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碩士論文
[1]基于ARM+FPGA的雷達(dá)伺服控制器設(shè)計(jì)[D]. 馮智貴.南京理工大學(xué) 2008
[2]基于S3C44B0X的城市路燈控制器[D]. 劉雨樓.廣西大學(xué) 2007



本文編號(hào)：2932330