TSVs串?dāng)_故障的測試和診斷對提高集成電路成品率有重要影響。為了減少TSVs測試和診斷時間,并且減少測試電路的面積開銷,提出在信號接收端重用掃描單元的測試架構(gòu)對TSVs串?dāng)_故障進行分組測試和診斷的新方案.該方案首先使用提出的TSVs分組算法,根據(jù)TSVs之間串?dāng)_影響距離,應(yīng)用鄰接矩陣求極大獨立集對TSVs進行快速分組,使得每組內(nèi)的TSVs不會發(fā)生串?dāng)_故障,并且最大化同組中TSVs的數(shù)量.分組完成后,使用提出的測試架構(gòu)對同組內(nèi)的TSVs進行并行測試,并且根據(jù)TSVs的測試響應(yīng),可以進一步診斷故障TSVs.實驗結(jié)果表明,所提測試方案有效地減少了測試和診斷時間,并且減少了面積開銷. 

【文章來源】：微電子學(xué)與計算機. 2020年02期 北大核心

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

攻擊TSVs和受害TSVs模型

下面以圖3為例,闡述圖2中分組算法在規(guī)則TSVs分布和不規(guī)則TSVs分布中的具體應(yīng)用.為方便描述,圖3中將各TSVs從1至9進行編號,以便區(qū)別不同的TSVs.首先執(zhí)行步驟一,將各TSVs之間的位置關(guān)系轉(zhuǎn)換為鄰接矩陣.在圖3(a)中假設(shè)最大串?dāng)_影響距離為 2 d ,則轉(zhuǎn)換后的鄰接矩陣為矩陣(1),矩陣的行序號和列序號對應(yīng)著圖3(a)中TSVs的編號.

TSVs分布


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