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荷控憶阻器記憶衰退的寄生效應

發(fā)布時間:2020-12-18 05:59
  荷控憶阻器在寄生元件存在的情況下,可能發(fā)生記憶衰退現(xiàn)象。該文采用憶阻器動力學路線圖和仿真的方法,研究了憶阻器寄生電阻和寄生電容對其動力學特性的影響。理論和仿真分析發(fā)現(xiàn),理想荷控(流控)憶阻器在直流和交流激勵下,寄生電阻或寄生電容單獨存在時不發(fā)生記憶衰退現(xiàn)象,但在寄生電阻和寄生電容同時存在的情況下會發(fā)生記憶衰退,其機理是寄生元件形成放電通路,從而導致荷控憶阻器產(chǎn)生了記憶衰退。 

【文章來源】:電子與信息學報. 2020年04期 北大核心

【文章頁數(shù)】:7 頁

【部分圖文】:

荷控憶阻器記憶衰退的寄生效應


理想荷控憶阻器DRM

初值條件


?,;圖5(b)是此電壓激勵下憶阻器的狀態(tài)響應;圖5(c)為幅度,周期的三角波,圖5(d)為三角波激勵下的狀態(tài)響應。從圖5中可以很明顯地看出,對應不同的初值憶阻器有不同的穩(wěn)態(tài)響應,它們互不重合,沒有漸進收斂到唯一的穩(wěn)態(tài)值。4寄生元件對荷控憶阻器記憶衰退的影響4.1寄生串聯(lián)電阻的影響憶阻器的電極引線會產(chǎn)生寄生電阻,單獨考慮寄生串聯(lián)電阻R時的荷控憶阻器電路如圖6所示。根據(jù)基爾霍夫電壓和電流定律,電路的動力學方程為dqdt=vR+1+q2(6)圖2理想荷控憶阻器DRM圖3理想荷控憶阻器在不同初值條件下的DC響應圖4理想荷控憶阻器在不同初值條件下的AC響應846電子與信息學報第42卷

初值條件


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【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于憶阻器的乘法器電路設計[J]. 王光義,沈書航,劉公致,李付鵬.  電子與信息學報. 2020(04)



本文編號:2923489

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