隨著微波集成電路的高速發(fā)展,無論是器件、電路、天線、還是封裝,在建模方面對精準度,依賴性,高效性,普遍性的要求日益增長。特別是當前電磁結構的高密度集成趨勢,大到復合材料的航空航天器件,小到納米材料的電磁傳感器的設計都需要發(fā)展各種復雜的多尺度及多物理的電磁建模仿真算法。物理測量中由于饋線接口等一系列的原因會導致測量的參數不精確,所以會采用去嵌技術校準去除饋線或轉接頭的影響。與此類似,傳統(tǒng)計算電磁算法仿真提取電路參數時由于施加激勵的原因往往會存在端口不連續(xù)性,因而導致精確參數的計算會因此受到較大的影響無法精確的提取電路的特征參量及寄生參數。因此,計算電磁方法結合校準技術對電路結構進行建模并準確提取其各種參數是非常有實際工程意義的。本篇論文的主要工作創(chuàng)新包括以下三點:1.研究了物理測量中去嵌方法與數值校準方法的異同點,對已有的數值校準方法進行了詳細的對比分析,根據電路結構的不同,以選擇合適的計算電磁算法以及數值校準技術對電路進行建模并提取參數。2.解決了時域有限差分算法（FDTD）實現開短路校準技術（SOC）的難點。針對時域有限差分算法的網格特點,提出四種不同方法來實現FDTD-SOC算法。... 

【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數】：82 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

未經過校準與經過SOC校準結果對比

第三章 基于FDTD算法的SOC技術完全相同是合理的，誤差盒子包含了端口不連續(xù)及高階C數值校準方法，可以計算出這兩個相同的誤差盒子的加，高階模式作為消逝模將快速衰減，最終參考平面上嵌校準的部分也就是待測件DUT部分，在這個例子中就，在這一部分中確保僅有主模傳播，在這種情況下，隨傳播常數將收斂到固定值。

圖3-13 SIW傳播常數隨DUT長度變化12所示，隨饋線的長度變化對應的歸一化相位常數及衰出，隨饋線的長度變化，當 分別為2，3，4時，提取減常數逐漸收斂于固定值，說明其收斂性良好，從變化不階模影響較小，并且由于使用了微帶轉SIW轉換器，因37


本文編號：2907887