遠(yuǎn)紫外感應(yīng)電荷楔條陽極探測器及游標(biāo)陽極研究
【學(xué)位單位】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:TN23
【文章目錄】:
摘要
abstract
第1章 緒論
1.1 課題研究背景及意義
1.2 基于MCP及位敏陽極的光子計(jì)數(shù)成像探測器基礎(chǔ)
1.2.1 光電陰極
1.2.2 微通道板
1.2.3 位敏靈敏陽極
1.3 課題來源、研究目的及研究內(nèi)容
第2章 遠(yuǎn)紫外感應(yīng)電荷楔條形陽極密封管探測器的研制
2.1 輸入窗口材料的選取
2.2 光陰極材料的選取與制備
2.2.1 光陰極材料的選取
2.2.2 光陰極的制備
2.3 MCP的選取與預(yù)處理
2.4 電荷感應(yīng)層及襯底的選取
2.5 WSA的優(yōu)化和制備
2.5.1 WSA極間電容的優(yōu)化
2.5.2 WSA的加工
2.6 探測器結(jié)構(gòu)優(yōu)化
2.6.1 電子云的優(yōu)化
2.6.2 探測器結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)
2.7 電路讀出系統(tǒng)的研制
2.7.1 電荷靈敏前置放大電路
2.7.2 濾波整形與峰值保持電路
2.7.3 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
2.8 本章小結(jié)
第3章 遠(yuǎn)紫外密封管成像探測器性能檢測
3.1 探測量子效率
3.1.1 MCP探測量子效率檢測
3.1.2 CsI量子效率
3.2 增益
3.3 暗計(jì)數(shù)
3.3.1 MCP預(yù)處理對暗噪聲的影響
3.3.2 探測器的暗計(jì)數(shù)
3.4 空間分辨率
3.4.1 探測器空間分辨率與整形時(shí)間的理論關(guān)系
3.4.2 探測器空間分辨率與整形時(shí)間的實(shí)驗(yàn)探究
3.5 最高計(jì)數(shù)率
3.5.1 探測器計(jì)數(shù)率與整形時(shí)間的理論關(guān)系
3.5.2 探測器計(jì)數(shù)率與整形時(shí)間關(guān)系的實(shí)驗(yàn)探究
3.6 探測器的圖像線性測量
3.7 本章小結(jié)
第4章 Vernier陽極理論研究
4.1 引言
4.2 Vernier陽極概述
4.2.1 Vernier陽極結(jié)構(gòu)
4.2.2 Vernier陽極的設(shè)計(jì)原理
4.2.3 Vernier陽極的解碼算法
4.3 Vernier陽極的成像線性
4.3.1 Vernier陽極的解碼算法的修正
4.3.2 Vernier陽極成像線性模擬
4.4 Vernier陽極的空間分辨率理論
4.4.1 Vernier陽極分割噪聲
4.4.2 Vernier陽極電子噪聲
4.5 Vernier陽極的結(jié)構(gòu)優(yōu)化
4.6 本章小結(jié)
第5章 總結(jié)與展望
5.1 全文總結(jié)
5.2 工作展望
參考文獻(xiàn)
致謝
作者簡歷及攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與研究成果
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2849088
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