基于Pentacene的薄膜晶體管的制備及其性能研究
【學(xué)位單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:TN321.5
【部分圖文】:
電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文蒸鍍、噴墨打印等等。正是由于以上的諸多優(yōu)勢(shì),近年來(lái),有機(jī)小分子FET 上的應(yīng)用越來(lái)越多,正處于一個(gè)高速發(fā)展的時(shí)期。 薄膜晶體管的發(fā)展簡(jiǎn)史對(duì)于薄膜晶體管的研究,最早可以追溯到 1934 年。如圖 1-1(a)所示nfeld[11]的專利中提到的器件結(jié)構(gòu)和底柵錯(cuò)排型的結(jié)構(gòu)很相似,都是向最極施加電壓,以此來(lái)控制器件的電流大小,電流則在最上層的兩個(gè)電極。然而,Lilienfeld 對(duì)于該器件工作原理的描述卻并不完全準(zhǔn)確,他沒(méi)有必須由半導(dǎo)體材料作為有源層這一關(guān)鍵技術(shù)點(diǎn)。隨后,Heil[12]在 1935 年一個(gè)發(fā)明專利很好的解決了上述問(wèn)題,其器件構(gòu)想如圖 1-1(b)所示。在該Heil 明確的提出了薄膜晶體管的有源層必須使用半導(dǎo)體材料的概念。然時(shí)的制作工藝來(lái)說(shuō),還達(dá)不到制作這種器件的技術(shù)水平要求,所以上述留在原理構(gòu)思階段。
圖 1-2 Hofstein 等人提出的 MOSFET 結(jié)構(gòu)示意圖一時(shí)間,薄膜晶體管 TFT 也被發(fā)明制造出來(lái)。WeimerStaggered)的器件結(jié)構(gòu),如圖 1-3 所示。與 MOSFET非常類似,都包含源漏電極、有源層、柵絕緣層和柵處位置也大致一樣。但是兩者之間也是有一些區(qū)別的上、基底材料的選擇、有源層材料的選擇以及有源層也存在區(qū)別。因此,雖然 MOSFET 與 TFT 在器件功能學(xué)特性要遠(yuǎn)高于后者,當(dāng)然,在制作成本上,TFT 具有
圖 1-2 Hofstein 等人提出的 MOSFET 結(jié)構(gòu)示意圖在同一時(shí)間,薄膜晶體管 TFT 也被發(fā)明制造出來(lái)。Weimer 等型(Staggered)的器件結(jié)構(gòu),如圖 1-3 所示。與 MOSFET 相結(jié)構(gòu)非常類似,都包含源漏電極、有源層、柵絕緣層和柵電件所處位置也大致一樣。但是兩者之間也是有一些區(qū)別的,方法上、基底材料的選擇、有源層材料的選擇以及有源層與置等也存在區(qū)別。因此,雖然 MOSFET 與 TFT 在器件功能上的電學(xué)特性要遠(yuǎn)高于后者,當(dāng)然,在制作成本上,TFT 具有明
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