發(fā)布時間：2017-04-02 10:12

  本文關(guān)鍵詞：射頻同軸電纜的屏蔽效能測試系統(tǒng)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著電子系統(tǒng)和電子設(shè)備復(fù)雜化程度的不斷提高,在同一環(huán)境下,就可能存在著各種設(shè)備或系統(tǒng),而對這些設(shè)備或系統(tǒng)的電磁兼容性的要求也就會相應(yīng)有所提高并且變得嚴苛。為了減小相互間的電磁干擾,降低設(shè)備或系統(tǒng)之間的影響,保證整體環(huán)境有效順利的運行,系統(tǒng)內(nèi)的各個部件特別是連接電纜和電纜組件就都必須采取屏蔽措施,因此對于電纜或組件的屏蔽效能的測量方法,日益成為廣泛的研究熱點。射頻同軸電纜作為連接電纜中重要的一種,測試其屏蔽效能的方法已有很多種。本文采用三同軸法和混響室法,構(gòu)成一套500MHz到18GHz的射頻同軸電纜屏蔽效能測試系統(tǒng)。在三同軸法中,對于同軸電纜的測量主要是利用轉(zhuǎn)移阻抗和屏蔽衰減兩種方法,在30MHz以下的頻段內(nèi),同軸電纜的屏蔽效能與其長度有關(guān),用轉(zhuǎn)移阻抗來測量；在30MHz以上的頻段內(nèi),同軸電纜的屏蔽效能與其長度無關(guān),用屏蔽衰減來測量。該課題的三同軸法測試系統(tǒng),采用“短路-短路”的結(jié)構(gòu)和直接測量屏蔽衰減的方法,設(shè)計了一套500MHz～1GHz的測試裝置。在系統(tǒng)的搭建過程中,我們先進行理論分析,對各個部分的結(jié)構(gòu)、尺寸進行設(shè)計,再利用Auto CAD軟件畫出零件圖和裝配圖,最后加工和實測。在高頻部分,采用混響室法,通過機械攪拌器的轉(zhuǎn)動,全屏蔽的腔體內(nèi)會產(chǎn)生均勻的、隨機極化的、各向同性的場分布,利用電磁波在腔體內(nèi)的振蕩和反射,會產(chǎn)生較大的電場強度。被測件在該環(huán)境下,能準確地測量出屏蔽效能。混響室測試系統(tǒng)的搭建,在一些大學(xué)、機構(gòu)等地已有相應(yīng)的研究,但實例仍較少,在多種測試方法中,屬于較為創(chuàng)新、前沿的一類。該系統(tǒng)操作簡單、費用低廉,而且用途廣泛,不僅可以對同軸電纜進行屏蔽效能的測試,而且還可對其他組件進行測量,也可用于其他有關(guān)電磁干擾的測試中。該課題在國際標(biāo)準規(guī)定的前提下,構(gòu)建了一套完整的混響室測試系統(tǒng),利用HFSS仿真軟件對混響室內(nèi)最重要的攪拌器進行仿真優(yōu)化,確定最佳方案,從而使混響室內(nèi)場的均勻性達到最優(yōu)。在搭建好實物后,對混響室進行均勻性測試以及同軸電纜的實際測量,并對同軸電纜RG59和同軸電纜FFJ216A-3#進行重復(fù)性測試,對FFJ216A-2#、FFJ216A-3#、UFB205A-1#、 TFLEXRG402-3#這四種同軸電纜的對比性的測試,通過對結(jié)果的比較,可得到該混響室系統(tǒng)的設(shè)計己成功完成。
【關(guān)鍵詞】：同軸電纜 三同軸法 混響室法 屏蔽效能 均勻性
【學(xué)位授予單位】：西安郵電大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN03
【目錄】：

• 摘要3-4
• Abstract4-9
• 第1章 緒論9-13
• 1.1 課題的背景和意義9-10
• 1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀10-11
• 1.2.1 三同軸測試系統(tǒng)的研究現(xiàn)狀10
• 1.2.2 混響室測試系統(tǒng)的研究現(xiàn)狀10-11
• 1.3 論文的組織框架11-13
• 第2章 射頻同軸電纜及其屏蔽效能測試方式13-25
• 2.1 射頻同軸電纜13-16
• 2.1.1 基本結(jié)構(gòu)13
• 2.1.2 主要參數(shù)13-15
• 2.1.3 簡單分類15-16
• 2.2 射頻同軸電纜泄漏原理16-21
• 2.3 屏蔽效能測試方法簡述21-24
• 2.3.1 功率吸收鉗法21-22
• 2.3.2 線注入法22
• 2.3.3 電流探頭法22
• 2.3.4 暗室天線法22-23
• 2.3.5 GTEM小室法23-24
• 2.3.6 各測試方法的優(yōu)缺點24
• 2.4 本章小結(jié)24-25
• 第3章 三同軸法的基本理論25-33
• 3.1 三同軸法的結(jié)構(gòu)25-27
• 3.1.1 三同軸法基本結(jié)構(gòu)25-26
• 3.1.2 三同軸法拓展結(jié)構(gòu)26-27
• 3.2 三同軸法的基本測試理論27-31
• 3.2.1 轉(zhuǎn)移阻抗測試理論27-30
• 3.2.2 屏蔽衰減測試理論30-31
• 3.3 本章小結(jié)31-33
• 第4章 混響室法的基本理論33-43
• 4.1 混響室的電磁場理論33-36
• 4.2 混響室的主要參數(shù)36-39
• 4.2.1 模頻率和模數(shù)36
• 4.2.2 品質(zhì)因數(shù)36-38
• 4.2.3 品質(zhì)因數(shù)帶寬38
• 4.2.4 攪拌效率38-39
• 4.2.5 均勻性39
• 4.3 混響室的基本結(jié)構(gòu)39-41
• 4.3.1 系統(tǒng)基本回路40-41
• 4.3.2 屏蔽效能測試原理41
• 4.4 本章小結(jié)41-43
• 第5章 三同軸法系統(tǒng)的設(shè)計與測試43-49
• 5.1 三同軸總體設(shè)計43-44
• 5.2 總體尺寸的設(shè)計44-45
• 5.3 遠端短路結(jié)構(gòu)的設(shè)計45-46
• 5.4 近端短路結(jié)構(gòu)的設(shè)計46-47
• 5.5 屏蔽效能測試47-48
• 5.6 本章小結(jié)48-49
• 第6章 混響室法系統(tǒng)的設(shè)計與測試49-65
• 6.1 箱體的設(shè)計49-50
• 6.2 攪拌器的設(shè)計50-51
• 6.3 天線的設(shè)計51-52
• 6.4 混響室的仿真52-53
• 6.5 放大器的設(shè)計53-54
• 6.6 其他部分的設(shè)計54
• 6.6.1 測試臺54
• 6.6.2 連接設(shè)備54
• 6.7 混響室的均勻性測試54-58
• 6.7.1 均勻性測試步驟55-56
• 6.7.2 均勻性測試數(shù)據(jù)處理56-58
• 6.8 屏蔽效能測試58-64
• 6.8.1 測試過程58-59
• 6.8.2 驗證測試結(jié)果的重復(fù)性59-61
• 6.8.3 驗證測試結(jié)果的對比性61-64
• 6.9 本章小結(jié)64-65
• 第7章 總結(jié)與展望65-67
• 參考文獻67-71
• 攻讀學(xué)位期間取得的研究成果71-73
• 致謝73-74

  本文關(guān)鍵詞：射頻同軸電纜的屏蔽效能測試系統(tǒng)，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：282306