基于透射電鏡晶格圖像數(shù)字云紋的應(yīng)變測(cè)量方法
【學(xué)位單位】:天津大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類(lèi)】:TN16;TP391.41
【部分圖文】:
第二章 RST 的理論與技術(shù)基礎(chǔ)所使用方法中所用到的原理,其中包括高分角幾何云紋測(cè)量應(yīng)變、數(shù)字云紋算法、TEM格圖像的柵線提取微術(shù)是一種研究晶體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的有效方法。以直接觀測(cè)樣品的晶體結(jié)構(gòu)和原子排列信息射電鏡以達(dá)到了亞亞納米的空間分辨能力,體及礦物質(zhì)等多種領(lǐng)域的研究。子顯微術(shù)的成像原理是相位襯度成像,如圖性結(jié)構(gòu)可被視為一個(gè)周期性的勢(shì)場(chǎng),當(dāng)電子;诓6笮栽,電子束也可被視為面波的振幅,但對(duì)波的相位有調(diào)節(jié)作用。當(dāng)品結(jié)構(gòu)的周期性信息時(shí),透射電子束和若干品的高分辨像[80]。
圖 2-2 TEM 晶格圖像的柵線提取[81](a) 單晶硅在(111)晶面的高分辨 TEM 圖像;(b) 圖(a)傅立葉變換后的衍射圖像;(c) 反傅立葉變換得到的 g1, g2和 g3方向的柵線圖Figure 2-2 grating patterns from TEM lattice image[81](a) High resolution TEM image of c-Si on (111) crystal plane; (b) Fourier transform image of (a);(c) grating patterns in g1, g2and g3directions, respectively, achieved by anti-Fourier transform2.2 轉(zhuǎn)角幾何云紋原理所有云紋測(cè)量技術(shù)的基本元素都是柵線。兩組柵線疊合在一起產(chǎn)生的云紋條紋會(huì)隨著柵線幾何形狀的微小改變而發(fā)生宏觀移動(dòng),云紋法就是通過(guò)測(cè)量條紋的移動(dòng)量來(lái)分析物體的位移場(chǎng)。柵線是物體變形信息的載體,因此選用合適的柵線可以方便快捷地提取出物體的變形信息。兩柵線疊加后,其中一個(gè)柵線節(jié)距增加或者減小會(huì)導(dǎo)致兩者相互遮擋光線,從而形成云紋。當(dāng)兩組柵線是平行時(shí)會(huì)形成與柵線平行的云紋,當(dāng)兩個(gè)柵線有相對(duì)轉(zhuǎn)角時(shí)依然能夠形成云紋,即轉(zhuǎn)角云紋。圖 2-3 給出了平行云紋和轉(zhuǎn)角云紋的示意圖。
格圖像的柵線提取[81](a) 單晶硅在(111)晶面的高分辨 TEM 圖換后的衍射圖像;(c) 反傅立葉變換得到的 g1, g2和 g3方向的Figure 2-2 grating patterns from TEM lattice image[81]tion TEM image of c-Si on (111) crystal plane; (b) Fourier transfotterns in g1, g2and g3directions, respectively, achieved by anti-Fo何云紋原理測(cè)量技術(shù)的基本元素都是柵線。兩組柵線疊合在一起幾何形狀的微小改變而發(fā)生宏觀移動(dòng),云紋法就是通物體的位移場(chǎng)。柵線是物體變形信息的載體,因此選地提取出物體的變形信息。兩柵線疊加后,其中一個(gè)致兩者相互遮擋光線,從而形成云紋。當(dāng)兩組柵線是云紋,當(dāng)兩個(gè)柵線有相對(duì)轉(zhuǎn)角時(shí)依然能夠形成云紋,平行云紋和轉(zhuǎn)角云紋的示意圖。
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