TE模體聲波諧振器的力敏機理研究
【學位授予單位】:西南科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2019
【分類號】:TN65
【圖文】:
( )1d2cPf Pd = ,其中 P 為外界壓力,d 為 FBAR 厚度,c 為彈性常數(shù)。通過以上三個公式,分別計算縱波模式下和剪切波模式下,彈性常數(shù)、厚度、密度對 FBAR 諧振頻率的偏移量,疊加得到總頻率偏移量。并與實驗對比,頻率靈敏度基本一致,均在 10-2Hz/Pa 的量級。但實際在應變傳感器感受到應變時,并不是簡單的拉壓形變,諧振器產(chǎn)生的應變與應力分布也是不均勻的,Waber 并沒有給出解決該問題的方法,以及預測其頻率靈敏度相應的模型。2007 年,Chiu 等[18]報道了一種高靈敏度 FBAR 傳感器。該傳感器可以同時測量環(huán)境溫度和壓力,其結構如圖 1-2 所示。其中 FBAR 屬于反面刻蝕型,壓電材料為氮化鋁(AlN)。該傳感器直接將 FBAR 作為敏感膜片,并放置于空氣中,因此該傳感器測量的是表壓。FBAR 膜片感受到壓力而彎曲,從而導致諧振頻率偏移。這與 Weber 報道的壓力傳感器工作原理相似。Chiu 認為導致 FBAR 諧振頻率漂移的原因是:壓電層的彈性常數(shù)和密度的變化。影響 TE 模 FBAR 諧振頻率的主要因素是縱波聲速和 FBAR壓電層的厚度。而影響縱波聲速的主要因素是壓電材料的彈性常數(shù)和密度。當 FBAR受到機械應力變化或溫度變化時,壓電材料的彈性常數(shù)和密度都會變化,從而導致FBAR 的諧振頻率發(fā)生偏移。
( )1d2cPf Pd = ,其中 P 為外界壓力,d 為 FBAR 厚度,c 為彈性常數(shù)。通過以上三個公式,分別計算縱波模式下和剪切波模式下,彈性常數(shù)、厚度、密度對 FBAR 諧振頻率的偏移量,疊加得到總頻率偏移量。并與實驗對比,頻率靈敏度基本一致,均在 10-2Hz/Pa 的量級。但實際在應變傳感器感受到應變時,并不是簡單的拉壓形變,諧振器產(chǎn)生的應變與應力分布也是不均勻的,Waber 并沒有給出解決該問題的方法,以及預測其頻率靈敏度相應的模型。2007 年,Chiu 等[18]報道了一種高靈敏度 FBAR 傳感器。該傳感器可以同時測量環(huán)境溫度和壓力,其結構如圖 1-2 所示。其中 FBAR 屬于反面刻蝕型,壓電材料為氮化鋁(AlN)。該傳感器直接將 FBAR 作為敏感膜片,并放置于空氣中,因此該傳感器測量的是表壓。FBAR 膜片感受到壓力而彎曲,從而導致諧振頻率偏移。這與 Weber 報道的壓力傳感器工作原理相似。Chiu 認為導致 FBAR 諧振頻率漂移的原因是:壓電層的彈性常數(shù)和密度的變化。影響 TE 模 FBAR 諧振頻率的主要因素是縱波聲速和 FBAR壓電層的厚度。而影響縱波聲速的主要因素是壓電材料的彈性常數(shù)和密度。當 FBAR受到機械應力變化或溫度變化時,壓電材料的彈性常數(shù)和密度都會變化,從而導致FBAR 的諧振頻率發(fā)生偏移。
西南科技大學2007 年,Campanella 等人[14]報道了一(SEM, scanning electron microscope)圖如圖2009 年 Campanella[15]在嵌入式 FBAR 微加面刻蝕型 FBAR,優(yōu)化設計出了 FBAR-梁的中的壓電材料均為 AlN。這兩種結構的微于嵌入式 FBAR 微加速度計時,質(zhì)量較大撐梁上方的 FBAR 也隨之變形,從而導致 F諧振頻率偏移的原因為:FBAR 感受到支作用下,變形導致 FBAR 中的壓電晶體的極產(chǎn)生電荷,使得 FBAR 諧振頻率偏移。在速度計受到的加速度成正比。Campanella 只的頻率靈敏度,一個支撐梁的靜態(tài)加速度靈的電荷位移如何影響 FBAR 頻率偏移,以不過與 Weber 提出的 FBAR 敏感機理不同
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本文編號:2796044
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