【摘要】：近些年電子行業(yè)飛速發(fā)展,智能終端設(shè)備已成為生活中必不可少的一部分。為適應(yīng)市場(chǎng)需求,集成電路制造工藝技術(shù)不斷提高,芯片上集成的晶體管數(shù)量迅速增加造成集成電路的測(cè)試工作變得越來(lái)越復(fù)雜。芯片復(fù)雜度的不斷提高會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)故障的可能性增加,從而使故障數(shù)目越來(lái)越多,針對(duì)故障檢測(cè)的測(cè)試數(shù)據(jù)也隨之增加。增大的測(cè)試數(shù)據(jù)規(guī)模不僅需要更多的存儲(chǔ)空間,而且還會(huì)帶來(lái)測(cè)試應(yīng)用時(shí)間和測(cè)試功耗的增加。因此,如何有效降低存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù)量成為集成電路測(cè)試領(lǐng)域研究的熱點(diǎn)。為減少測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)代價(jià),縮短測(cè)試應(yīng)用時(shí)間,可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮。測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮旨在減少測(cè)試數(shù)據(jù)需要存儲(chǔ)的二進(jìn)制位數(shù)量。數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)壓縮后存儲(chǔ)在測(cè)試儀上,芯片上的解壓電路則負(fù)責(zé)將測(cè)試儀傳來(lái)的數(shù)據(jù)解壓后施加到被測(cè)電路中。本文對(duì)測(cè)試激勵(lì)壓縮方法進(jìn)行研究,主要有以下兩方面的工作:(1)通過(guò)使用殘分量共享方法來(lái)研究無(wú)關(guān)位對(duì)變換拆分壓縮方法壓縮率的影響。共享方法利用原始測(cè)試集位流間存在的潛在相容性,在原測(cè)試集拆分成主分量集和殘分量集時(shí),使一個(gè)殘分量被多個(gè)位流共同使用,從而減少殘分量集規(guī)模。對(duì)單游程編碼而言,減小測(cè)試集規(guī)模能減少編碼碼字長(zhǎng)度,利于壓縮。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,使用共享方法后測(cè)試集中位流的殘分量平均共享度為1.74,但平均壓縮率僅為72.54%,較測(cè)試集使用“殘分量中l(wèi)最少”原則的變換分解減少2.87%,較使用相容預(yù)處理變換拆分方法壓縮率減少 4.4%。(2)通過(guò)有選擇地使用差分向量來(lái)研究無(wú)關(guān)位對(duì)變換拆分壓縮方法壓縮率的影響。該方法通過(guò)對(duì)測(cè)試向量有選擇地進(jìn)行差分處理,減少測(cè)試集中游程數(shù)。具體做法是對(duì)測(cè)試集中的無(wú)關(guān)位按照“跟隨”策略填充,填充后對(duì)向量中的每個(gè)數(shù)據(jù)位進(jìn)行差分處理得到差分向量,比較原測(cè)試向量和差分向量的游程數(shù),保留游程數(shù)較少的向量,這些向量組成一個(gè)組合測(cè)試集,對(duì)組合測(cè)試集進(jìn)行編碼壓縮。實(shí)驗(yàn)表明,對(duì)原測(cè)試集使用該方法后平均壓縮率為59.78%,較測(cè)試集直接編碼壓縮的壓縮率略有提高。綜合研究結(jié)果表明,利用無(wú)關(guān)位優(yōu)先考慮減少測(cè)試集規(guī)模對(duì)提高變換拆分壓縮方法的壓縮率沒(méi)有正面作用。反之,優(yōu)先考慮減少游程數(shù)比較好。
【學(xué)位授予單位】：湖南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2018
【分類(lèi)號(hào)】：TN405
【圖文】：

度除以編碼后平均游程長(zhǎng)度得到。當(dāng)ａ＝ｌ時(shí)，原始數(shù)據(jù)平均長(zhǎng)度等于編碼后平均游程長(zhǎng)逡逑度，表示沒(méi)有壓縮效果；當(dāng)0＞１時(shí)，原始數(shù)據(jù)平均長(zhǎng)度大于編碼后平均游程長(zhǎng)度，有一逡逑定的壓縮效果，并且ａ值越大，表示壓縮效果越好。從圖２．５可以看出，當(dāng)ｐ的取值從０逡逑到１過(guò)程中，壓縮增益逐漸增加，�。睍r(shí)壓縮增益達(dá)到最大值。也就是當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)中每逡逑一位�。皶r(shí)，ＦＤＲ編碼的壓縮效果達(dá)到最好。逡逑１０！邐！邐ｉ邐ｉ邐Ｉ邐ｉ邐Ｉ邐ｉ邐ｉ邐Ｉ逡逑Ｓ邋－邐ｆ－逡逑Ｌ逡逑－邐｜－逡逑５－邐ｊ￣逡逑ａ邋５邋－邐ｉ邋－逡逑４邋－邐／邐－逡逑３－邐丨—逡逑－邋邐邐？一一一一，邐＿逡逑邐—邋—邋邋邐—￣逡逑．ｉ邐Ｉ邐｜邐＿Ｊ邐｜邐！邐｜邐｜邐｜邐！邐逡逑＂0邐０１邐０２邐Ｄ３邐０．４邐０．５邐０．６邐０．７邐３．８邐０．９邐１逡逑Ｐ逡逑圖２．５邋ＦＤＲ壓縮增益逡逑ＦＤＲ編碼是單游程編碼，只對(duì)單獨(dú)的０邋（或１）游程進(jìn)行編碼。當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)中０游逡逑程（或１游程）１較多，且１游程（或０游程）較少時(shí)，單游程編碼壓縮效果較好。逡逑ＥＦＤＲ編碼對(duì)０游程的同時(shí)也能對(duì)１游程進(jìn)行編碼，是一種典型的雙游程編碼。對(duì)逡逑于跳變數(shù)較少、０游程與１游程均勻存在的測(cè)試集使用ＥＦＤＲ編碼壓縮效果較好。不逡逑過(guò)對(duì)于帶后綴的游程，需要一位標(biāo)識(shí)位來(lái)區(qū)分該游程種類(lèi)（０或１游程）。表２．３給出逡逑了邋ＥＦＤＲ編碼的前三組編碼碼字。由于ＥＦＤＲ編碼可同時(shí)對(duì)兩種游程編碼

位置０的概率為（７３８３７－４０６４）邋／７３８３７＝０．９４；而本實(shí)驗(yàn)方法得到的殘分量集中游程數(shù)為逡逑６２０７邋（表３．４中第７列），某一位置０的概率為（６５８１８－６２０７）邋／６５８１８＝０．９１。將兩個(gè)概逡逑率值反映在第二章中ＦＤＲ編碼壓縮增益曲線上，如圖３．５所示。緊縮位流方法中某一位逡逑為０的概率０．９４對(duì)應(yīng)圖中上面一條虛線，壓縮增益值為２．６３。本方法中某一位為０的概逡逑率０．９４對(duì)應(yīng)圖中下面一條虛線，壓縮增益值為２．０４。由圖３．５得出緊縮位流中游程帶來(lái)逡逑的壓縮增益更大。比較表３．４中測(cè)試集規(guī)模大小，與緊縮位流方法相比，本方法測(cè)試集逡逑規(guī)模減少僅１０．８６％，編碼后的平均游程游程長(zhǎng)度減少不到一位。游程數(shù)增加了邋５２．７３％，逡逑平均游程長(zhǎng)度的減少量不足已抵消確定位增加帶來(lái)的壓縮增益減少量，故共享殘分量方逡逑法的壓縮率低于文獻(xiàn)［５７］中位流緊縮的壓縮率。逡逑１０邐＇邐１邐ｊ邐＇邐逡逑｜逡逑）逡逑８邐■邐ｆ逡逑ｊ逡逑６邐－邐ｊ＇逡逑？邐ｉ逡逑ａ邐ｉ逡逑４－邐／－逡逑７＾逡逑—邋＿邋——邋—邋—邋—邋—邋—邋—…＿逡逑＾邐Ｉ邋Ｉ逡逑—邋邋邋邋邐邐邐邐邐邋＾￣￣＇ｌ＇：邐Ｉ邋ｊ逡逑ｑ邋邐ｌ邐｜邐ｊ邐ｊ邐Ｉ邋１邐逡逑０邐０．２邐０．４邐０．６邐０．８邐１逡逑Ｐ逡逑圖３．５壓縮增益比較逡逑表３．６給出不同情況下ＶＩＨＣ編碼壓縮的壓縮率。表中第２列是對(duì)原測(cè)試集直接編逡逑碼得到的壓縮率，第３列是對(duì)測(cè)試集進(jìn)行哈達(dá)瑪變換時(shí)，采用殘分量“１”最少原則拆分逡逑后得到殘分量集

在游程編碼中，編碼后碼字長(zhǎng)度相同的兩個(gè)游程在測(cè)試集中出現(xiàn)的概率相近＿，也逡逑就是碼字長(zhǎng)度相同的兩個(gè)游程數(shù)目相當(dāng)。但在實(shí)際電路的測(cè)試集中，不同游程長(zhǎng)度的游逡逑程數(shù)分布差異很大。圖４．１為Ｍｉｎｔｅｓｔ測(cè)試集中Ｓ５３７８電路的０游程分布情況，測(cè)試集中逡逑所有無(wú)關(guān)位Ｘ被填充成０。圖中橫軸為游程長(zhǎng)度，縱軸為各游程長(zhǎng)度對(duì)應(yīng)的數(shù)目。圖中逡逑可以看出整個(gè)游程主要表現(xiàn)為短游程，主要分布在長(zhǎng)度０？２０，特別是游程長(zhǎng)度小于５逡逑的游程在整個(gè)游程數(shù)中有著較大比重。Ｍｉｎｔｅｓｔ測(cè)試集中其他幾個(gè)大電路中游程長(zhǎng)度分逡逑布情況也是這種趨勢(shì)。逡逑１８００逡逑１６００邋＼逡逑１４００邐＼逡逑＾邋１２００邋＼逡逑５邋１０００邐＼逡逑

本文編號(hào)：2788486