【摘要】：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,芯片的集成度越來(lái)越高,為了確保這些高集成度芯片正常工作,對(duì)其進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試就顯得十分重要。同時(shí),在芯片制造過(guò)程中,由于制造工藝的影響,芯片內(nèi)部的帶隙基準(zhǔn)源和振蕩器的輸出會(huì)出現(xiàn)一定程度的偏差,而這些偏差會(huì)對(duì)芯片的性能產(chǎn)生影響,所以在ATE測(cè)試階段利用trim技術(shù)對(duì)這些參數(shù)進(jìn)行修調(diào),從而提升芯片輸出的準(zhǔn)確性。首先,本論文基于自動(dòng)測(cè)試機(jī)ASL1000為Dialog公司生產(chǎn)的一款快充芯片iW627設(shè)計(jì)了測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)可以對(duì)芯片的直流參數(shù),包括連接性、漏電流和阻抗進(jìn)行測(cè)試以及功能參數(shù),包括上電復(fù)位、過(guò)壓保護(hù)和欠壓鎖定進(jìn)行測(cè)試。其次,為了降低制造工藝偏差的影響,設(shè)計(jì)芯片內(nèi)部帶隙基準(zhǔn)電壓源和振蕩器兩個(gè)模塊的trim修調(diào)電路,并且設(shè)計(jì)相應(yīng)的trim測(cè)試電路,對(duì)芯片的帶隙基準(zhǔn)電壓和頻率進(jìn)行修調(diào)和測(cè)試。測(cè)試結(jié)果表明,修調(diào)電路可以將芯片的帶隙基準(zhǔn)源和振蕩器的輸出誤差分別控制在±0.03V和±6KHz之內(nèi),使這兩個(gè)模塊的輸出精度分別達(dá)到了 99.37%和94%,從而有效地提升了芯片輸出的準(zhǔn)確性。同時(shí),針對(duì)芯片帶隙基準(zhǔn)電壓源和振蕩器trim過(guò)程中測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)的問(wèn)題,對(duì)trim電路預(yù)修調(diào)過(guò)程進(jìn)行測(cè)試算法改進(jìn),從而縮短測(cè)試時(shí)間。此算法使帶隙基準(zhǔn)源和振蕩器平均測(cè)試時(shí)間分別縮短558.16ms和57.44ms,將測(cè)試時(shí)間分別縮短為原來(lái)的22.1%和33.5%,并通過(guò)測(cè)試大量芯片對(duì)算法的準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證。最后,基于設(shè)計(jì)的芯片測(cè)試系統(tǒng)以及帶隙基準(zhǔn)源和振蕩器的trim測(cè)試電路,對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,得出測(cè)試數(shù)據(jù),并且從芯片量產(chǎn)的角度出發(fā),對(duì)芯片的一些測(cè)試參數(shù)進(jìn)行直方圖、高斯分布、六西格瑪質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、Cp、Cpk和GRR分析,從而確保芯片測(cè)試的可靠性。
【學(xué)位授予單位】：天津工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2019
【分類號(hào)】：TN407
【圖文】：

進(jìn)行芯片的測(cè)試工作，選用ＡＴＥ測(cè)試可以滿足多種產(chǎn)品的測(cè)試要求。有許多設(shè)逡逑備制造商都生產(chǎn)ＡＴＥ，如科利登系統(tǒng)公司、泰瑞達(dá)、ＬＴＸ、安捷倫科技公司以逡逑及Ｓｃｈｌｕｍｂｅｒｇｅｒ公司等等。圖１－１是科利登系統(tǒng)公司開(kāi)發(fā)的ＡＳＬ１０００測(cè)試儀照逡逑片，也是本文所采用的測(cè)試設(shè)備。高端ＡＴＥ通常包括三個(gè)部分：測(cè)試探頭、工逡逑作站和主機(jī)架。逡逑ｍ＃逡逑ＨＵ逡逑圖１－１邋ＡＳＬ１０００測(cè)試機(jī)逡逑計(jì)算機(jī)工作站是用戶操作測(cè)試儀的界面。測(cè)試工程師可以在工作站上使用逡逑ＡＴＥ開(kāi)發(fā)商提供的軟件工具調(diào)試測(cè)試程序；在生產(chǎn)測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員也可以用逡逑工作站控制測(cè)試儀的運(yùn)轉(zhuǎn)。逡逑主機(jī)架包括電源、測(cè)試設(shè)備以及在執(zhí)行測(cè)試程序時(shí)控制測(cè)試設(shè)備的計(jì)算機(jī)。逡逑４逡逑

的顯著性檢驗(yàn)。在統(tǒng)計(jì)學(xué)中，方差分析是統(tǒng)計(jì)模型及其相關(guān)過(guò)程的集合，而在逡逑測(cè)量系統(tǒng)研究中，它被用來(lái)分析測(cè)量誤差和其他數(shù)據(jù)可變性的來(lái)源。在本文所逡逑描述的測(cè)試中，主要包括四類：被測(cè)芯片、測(cè)試工程師、測(cè)試儀器以及被測(cè)芯逡逑片與測(cè)試者之間的相互作用所引起的重復(fù)性誤差，使用ＡＮＯＶＡ對(duì)測(cè)試項(xiàng)的分逡逑析結(jié)果如圖２－５所示。逡逑

前文中己經(jīng)詳細(xì)介紹了連接性測(cè)試的原理，即芯片在設(shè)計(jì)時(shí)會(huì)在每個(gè)引腳逡逑上加ＥＳＤ保護(hù)二極管，然后通過(guò)加電流測(cè)電壓的方式測(cè)試二極管的壓降是否在逡逑設(shè)定的區(qū)間內(nèi)。圖３－５是該芯片連接性測(cè)試的具體連接方式，圖中ＯＶＩ－ＣＨ５－Ｆ逡逑指的是測(cè)試板卡ＯＶＩ的第５個(gè)測(cè)試通道的ｆｏｒｃｅ端，ＯＶＩ－ＣＨ５－Ｓ指的是測(cè)試板逡逑卡ＯＶＩ的第５個(gè)測(cè)試通道的ｓｅｎｃｅ端，其他的通道與其類似。下面具體介紹其逡逑操作流程，芯片連接性測(cè)試可以并行測(cè)試，因?yàn)槊總�(gè)引腳的連接互相之間沒(méi)有逡逑干擾，同時(shí)，它們使用的測(cè)試資源ＯＶＩ有８?jìng)�(gè)測(cè)試通道，所以可以同時(shí)使用。逡逑下面以ＤＲＶ引腳為例進(jìn)行介紹，在測(cè)試ＤＲＶ引腳連接性時(shí)，首先通過(guò)程序控逡逑制多路復(fù)用器ＡＤＧ１６０４正常工作；其次，將ＡＤＧ１６０４的ＡＯ、Ａ１引腳置位為逡逑２３逡逑

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本文編號(hào)：2770957