基于溫敏參數(shù)的IGBT可靠性評估方法研究
【學(xué)位授予單位】:山西大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號】:TM315;TN322.8
【圖文】:
究背景及意義石能源消費會帶來溫室效應(yīng)等嚴(yán)重的環(huán)境污染問題,各國政府開能源發(fā)電。我國作為全球最大的能源消費大國,長期以來依賴以應(yīng),給環(huán)境帶來了巨大的污染[1]。為了平衡經(jīng)濟發(fā)展、能源消費、的關(guān)系,我國自上世紀(jì) 80 年代開始發(fā)展新能源技術(shù),經(jīng)過 30 多新能源領(lǐng)域取得了舉世矚目的發(fā)展。其中傳統(tǒng)化石能源在能源結(jié)降,風(fēng)能在能源結(jié)構(gòu)的比重中正逐年上升,如圖 1.1 所示。風(fēng)力發(fā)完善,風(fēng)力發(fā)電逐漸走向規(guī)模化和產(chǎn)業(yè)化,陸地大型并網(wǎng)風(fēng)電場雨后春筍,相繼興建。全球風(fēng)能理事會發(fā)布的《2017 年全球風(fēng)電》[2]中指出,截止 2017 年底,中國風(fēng)力發(fā)電累積裝機容量達(dá) 18831.7%。2017 年中國風(fēng)力發(fā)電新增裝機容量達(dá) 19660MW,較 201然占據(jù)了全球 37%的市場。報告表明:盡管最近中國風(fēng)力發(fā)電建國仍是目前全球風(fēng)力發(fā)電規(guī)模最大的、增速最快的國家。
基于溫敏參數(shù)的 IGBT 可靠性評估方法研究和電網(wǎng)之間連接功率變流器來負(fù)責(zé)調(diào)節(jié)電壓幅值和頻率。由引起風(fēng)機輸出功率大幅波動,對風(fēng)電系統(tǒng)中的機械和電氣結(jié)率變流器發(fā)生故障越來越頻繁,給整個系統(tǒng)的可靠運行帶來功率變流器是風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)的重要組成部分[8],是連接風(fēng)力發(fā)因此提高功率變流器的可靠性對于保障風(fēng)電系統(tǒng)的平穩(wěn)和安件作為功率變流器中的核心部件,其可靠運行關(guān)乎著整個電運行。圖 1.2 為功率電流器部件失效概率分布圖。由圖 1.2 可流器系統(tǒng)中失效概率最高的器件,失效概率約為 34%,其次連接器件、儲能電感、電阻和其他部件等。
圖 1.3 功率器件失效因素餅狀圖耗累積導(dǎo)致結(jié)溫急劇上升,風(fēng)電變流系統(tǒng)散發(fā)。為了填補接觸面之間的空隙,減小熱器之間需要涂抹一層導(dǎo)熱硅脂,如圖薄會導(dǎo)致接觸面之間留有空隙,不利用散于散熱。因此 IGBT 與散熱器的安裝工藝關(guān)重要的作用,直接影響了 IGBT 的可靠性能的評估成為了 IGBT 可靠性研究的重?zé)崞鳠峁柚珿BT圖 1.4 IGBT 散熱組件
【相似文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 殷太平;;二分法在調(diào)整中的應(yīng)用[J];微電子學(xué)與計算機;1988年01期
2 邵金仙;;測試適配器的設(shè)計[J];微電子學(xué)與計算機;1989年09期
3 吳天麟;;把被測器件與測試器的連接作為傳輸線處理[J];電子測試;1998年05期
4 張宇,逯貴禎;測試環(huán)境對被測器件(DUT)的影響[J];北京廣播學(xué)院學(xué)報(自然科學(xué)版);1998年02期
5 徐執(zhí)模;;在臺式測試儀上準(zhǔn)確、廉價、有效地測試數(shù)字IC交流參數(shù)的方法[J];微電子測試;1995年04期
6 接軍;;使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行時域分析[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗;2010年06期
7 梁毅 ,高葆新;基于DSP的混合信號測試中的進(jìn)展[J];國外電子測量技術(shù);1997年04期
8 王展;;元器件開短路測試應(yīng)用[J];電子質(zhì)量;2014年07期
9 Ewout Vandamme;大信號網(wǎng)絡(luò)分析——用于表征非線性器件和系統(tǒng)的測量概念[J];國外電子測量技術(shù);2002年05期
10 費豐;紅外焦平面陣列相對光譜響應(yīng)測試系統(tǒng)[J];航空計測技術(shù);2002年06期
相關(guān)會議論文 前1條
1 張志剛;姜萬順;;隔離度對三階交調(diào)測試的影響[A];2011年全國微波毫米波會議論文集(下冊)[C];2011年
相關(guān)碩士學(xué)位論文 前4條
1 郭天星;基于溫敏參數(shù)的IGBT可靠性評估方法研究[D];山西大學(xué);2019年
2 王公詣;半導(dǎo)體工業(yè)降低復(fù)測率的研究與實現(xiàn)[D];天津大學(xué);2006年
3 謝瑞娟;基于負(fù)載牽引法的自動調(diào)配器的研制[D];西安電子科技大學(xué);2006年
4 徐俊;集成電路產(chǎn)品測試管理系統(tǒng)[D];復(fù)旦大學(xué);2009年
本文編號:2764632
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2764632.html