【摘要】：傳統(tǒng)的集成電路的設(shè)計(jì)與測試受EDA(Electronics Design Automation,電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)服務(wù)器及測試設(shè)備地理位置和運(yùn)算能力的限制,而基于云計(jì)算實(shí)現(xiàn)的遠(yuǎn)程設(shè)計(jì)和測試充分發(fā)揮了云服務(wù)器動(dòng)態(tài)易擴(kuò)展的特點(diǎn),不僅能節(jié)省小型設(shè)計(jì)所使用的計(jì)算資源,而且進(jìn)行大型設(shè)計(jì)時(shí)也能夠提供足夠強(qiáng)大的計(jì)算資源來支持集成電路的動(dòng)態(tài)仿真。除此之外,基于云計(jì)算研發(fā)的集成電路開發(fā)相關(guān)的共享平臺(tái)還能夠?yàn)楦鞣N應(yīng)用程序提供開發(fā)和運(yùn)行環(huán)境,實(shí)現(xiàn)集成電路設(shè)計(jì)測試及相關(guān)的輔助功能。本文在研究云計(jì)算、集成電路設(shè)計(jì)和測試的基礎(chǔ)上,深入分析了集成電路發(fā)展的瓶頸,研究了云計(jì)算的特點(diǎn)及能夠提供的服務(wù),提出一種層次化的云計(jì)算共享平臺(tái)架構(gòu)。其次本文從應(yīng)用程序設(shè)計(jì)開發(fā)的角度,分別研究了應(yīng)用程序接口、集成電路開發(fā)及測試方法,提出了基于云平臺(tái)的電路設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、芯片測試的方法,開發(fā)并在云平臺(tái)上部署了相應(yīng)的示范性應(yīng)用程序及工具組。與傳統(tǒng)的方式相比,基于云平臺(tái)實(shí)現(xiàn)的集成電路設(shè)計(jì)及測試擁有更強(qiáng)大的計(jì)算能力和更高的靈活性,不僅能夠方便用戶在計(jì)算能力較弱的個(gè)人電腦上從事設(shè)計(jì)及測試任務(wù),而且能夠隨著任務(wù)復(fù)雜度的提升自動(dòng)地?cái)U(kuò)展計(jì)算能力。同時(shí)它提供了集成電路開發(fā)的新模式,隨著基于云計(jì)算的芯片遠(yuǎn)程設(shè)計(jì)和測試的發(fā)展壯大,這種新興的模式將會(huì)有效降低芯片開發(fā)和測試的成本,尤其是中小型企業(yè)和高校小批量芯片的測試成本。此外,本文改進(jìn)了圖像處理類芯片所需的應(yīng)用工具算法。提出的專用測試矢量生成方法計(jì)算準(zhǔn)確,與傳統(tǒng)方法相比,速度提升明顯。
【學(xué)位授予單位】：天津大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2018
【分類號】：TN40
【圖文】：

9圖 2-1 共享云平臺(tái)應(yīng)用程序接口如圖2-1所示為共享云平臺(tái)的應(yīng)用程序接口示意圖，從功能上主要分為兩類。第一類為云平臺(tái)的功能接口，使用戶能夠直接使用云平臺(tái)的應(yīng)用 APP 功能。第二類為公開應(yīng)用程序編程接口（API）或函數(shù)，使外部的軟件程序可以增加云平臺(tái)的功能或使用云平臺(tái)系統(tǒng)的資源，而不需要更改云平臺(tái)軟件系統(tǒng)的源代碼。該類接口一般提供給開發(fā)者用戶以及硬件設(shè)備廠商等。2.2.2 集成電路設(shè)計(jì)開發(fā)工具組集成電路設(shè)計(jì)開發(fā)的重點(diǎn)之一為數(shù)字 IC 的設(shè)計(jì)。隨著數(shù)字 IC 產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，芯片上已經(jīng)需要集成數(shù)以億計(jì)的晶體管，經(jīng)典的基于電路原理圖的設(shè)計(jì)方法早已不能滿足規(guī)模越發(fā)龐大的數(shù)字 IC 設(shè)計(jì)需求，先進(jìn)的數(shù)字電路設(shè)計(jì)開發(fā)普遍采用基于硬件描述語言（Hardware Description Language

第 2 章 IC 設(shè)計(jì)與測試共享云平臺(tái)架構(gòu)須保證正確外，測試激勵(lì)的產(chǎn)生至關(guān)重要。激勵(lì)由測試時(shí)序和測試矢量合成，測試時(shí)序決定了施加給芯片的信號周期，測試矢量定義了每個(gè)信號周期的激勵(lì)波形，兩者的合成信號經(jīng)過一定的處理得到 ATE 的測試激勵(lì)[28]。由于不同 ATE 要求的測試矢量語法格式要求不同，且測試信號種類繁多，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，因此由各種格式的原始測試矢量轉(zhuǎn)化為適用于 ATE 的測試矢量也是一項(xiàng)耗時(shí)耗力的工作。

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前9條

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本文編號：2735829