【摘要】：紅外探測(cè)是光學(xué)探測(cè)領(lǐng)域的重要組成部分,隨著探測(cè)技術(shù)的不斷發(fā)展,提高探測(cè)精度、增大探測(cè)距離成為紅外探測(cè)發(fā)展的必然要求。對(duì)于紅外探測(cè)系統(tǒng),內(nèi)部光機(jī)部件及紅外窗口自身輻射演變成為的雜散輻射將嚴(yán)重影響成像質(zhì)量,降低圖像分辨率。因此,針對(duì)紅外雜散輻射建立窗口紅外輻射模型、開(kāi)展多源探測(cè)系統(tǒng)中的紅外雜散輻射分析,為后續(xù)的紅外雜散輻射抑制方案提供理論依據(jù),對(duì)最終提高探測(cè)質(zhì)量具有重要意義。本文以某含鍍膜窗口的紅外探測(cè)系統(tǒng)為研究對(duì)象,建立了鍍膜窗口紅外輻射模型,利用蒙特卡洛法分析了系統(tǒng)內(nèi)部的雜散輻射傳輸特性,進(jìn)一步研究了窗口增透膜對(duì)系統(tǒng)內(nèi)雜散輻射及探測(cè)精度的影響效果。本文主要從以下幾個(gè)方面開(kāi)展:1.建立窗口表觀輻射模型和增透膜光學(xué)特性求解模型。窗口表觀輻射模型可以表征窗口向介質(zhì)體外空間輻射能量的能力及輻射能量的方向特性。在對(duì)光機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行雜散傳輸計(jì)算時(shí),利用該模型可將介質(zhì)體元發(fā)射簡(jiǎn)化為等效面面元發(fā)射,從而避免跟蹤光線在介質(zhì)內(nèi)部的傳輸過(guò)程,提高計(jì)算效率。增透膜光學(xué)特性求解模型基于薄膜光學(xué)理論推導(dǎo)得到,利用該模型可得到鍍膜界面處的方向波段反射率。2.針對(duì)某紅外探測(cè)系統(tǒng),利用基于蒙特卡洛法編制的求解程序分析系統(tǒng)內(nèi)部紅外雜散輻射傳輸特性,獲得系統(tǒng)內(nèi)主要雜散源的分布、雜散輻射傳輸?shù)奈ｋU(xiǎn)路徑、入瞳面上的雜散輻射分布規(guī)律及方向特性,為后續(xù)開(kāi)展針對(duì)性的雜散抑制提供依據(jù)。3.將增透膜光學(xué)特性求解模型耦合加入到雜散輻射求解程序中,開(kāi)展包含鍍制增透膜后窗口的雜散特性研究。文章從介質(zhì)表觀發(fā)射特性、系統(tǒng)內(nèi)雜散輻射傳輸及探測(cè)精度三個(gè)方面來(lái)說(shuō)明增透膜對(duì)系統(tǒng)內(nèi)部輻射傳輸?shù)挠绊憽?br> 【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類(lèi)號(hào)】：TN216
【圖文】：

哈爾濱工業(yè)大學(xué)工學(xué)碩士學(xué)位論文2.4.2 單層介質(zhì)膜的光學(xué)特性研究按照等效界面思想，單層介質(zhì)膜的光學(xué)特性可根據(jù)分析與其等效的界面的學(xué)特性得到，計(jì)算等效界面光學(xué)特性關(guān)鍵在于分析得到等效光學(xué)導(dǎo)納與單層介質(zhì)膜結(jié)構(gòu)參數(shù)之間的關(guān)系。單層介質(zhì)膜與基底組合的等效光學(xué)導(dǎo)納Y 與介質(zhì)膜層及基底結(jié)構(gòu)參數(shù)1N 、1d2N 有關(guān)。如圖 2-4 所示，分析過(guò)程中，先按照等效界面得到等效的電磁場(chǎng)物理關(guān)系式，再分別對(duì)單層薄膜界面建立相應(yīng)物理量關(guān)系式，從而建立等效參數(shù)與實(shí)參數(shù)的關(guān)聯(lián)，具體方法見(jiàn)參考文獻(xiàn)[97]。E+E-

圖 3-1 幾何模型簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)輻射時(shí)，入瞳面作為黑體面，擺鏡面作為鏡反射明表面均為漫反射面。計(jì)算工況為穩(wěn)定工況，性不變；罩體及窗口各部分溫度差距較大，但。模型，考慮到介質(zhì)窗口與入瞳面相對(duì)位置固定，向蒙特卡洛法（TMCM）進(jìn)行分析；罩體與入瞳特卡洛法（BMCM）進(jìn)行研究；由于內(nèi)部元器件對(duì)位置關(guān)系復(fù)雜，采用反向蒙特卡洛法（BMC影響。區(qū)域離散雜散輻射研究的雜散能量的入射統(tǒng)計(jì)面，在正

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2727101